发明名称 | 电子封装测试结果的标记方法 | ||
摘要 | 许多电子模片固定在互连结构上(例如,引线架、衬底、板或条)。密封模片以对所有封装组件提供大量未单个化的封装。然后,测试未单个化的封装,并将每个封装的测试结果自动标记到对应于该封装的密封剂上。然后,在自动标记之后,单个化各封装,并根据标记对它们进行分类。 | ||
申请公布号 | CN1641852A | 申请公布日期 | 2005.07.20 |
申请号 | CN200410001541.2 | 申请日期 | 2004.01.13 |
申请人 | 自由度半导体公司 | 发明人 | 帕特里克·B·科克兰;加利·J·科瓦尔;曹陆新;白志刚;周伟煌 |
分类号 | H01L21/66;H01L21/50;H01L23/544 | 主分类号 | H01L21/66 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 冯赓宣 |
主权项 | 1.一种方法,该方法包括:测试封装组件中多个未单个化的封装的每个封装的电路;用测试结果指示,机械标记封装组件中多个未单个化的封装的各未单个化的封装的密封剂;以及在机械标记之后,单个化多个未单个化的封装的各未单个化的封装。 | ||
地址 | 美国得克萨斯 |