| 发明名称 | 获取眼镜框架几何特征的装置及方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一装置，所述装置包括：一固定的基准部件(3)；一测量触探器(19)，其测量所述框架的内轮廓，并相对于所述固定的基准部件(3)是活动的；以及框架(2)厚度估测部件。所述框架厚度估测部件包括用于测量轮廓的触探器(19)。本发明还涉及一种框架几何特征获取方法，按照所述方法，框架(2)的厚度通过触探器(19)进行估测。 | ||
| 申请公布号 | CN101056740A | 申请公布日期 | 2007.10.17 |
| 申请号 | CN200580039117.X | 申请日期 | 2005.08.11 |
| 申请人 | 百利奥国际公司 | 发明人 | O·博泽托 |
| 分类号 | B24B9/14(2006.01);G01B5/20(2006.01) | 主分类号 | B24B9/14(2006.01) |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 余全平 |
| 主权项 | 1.眼镜框架几何特征的获取装置，其包括：一固定的基准部件(3)；一测量触探器(19)，其测量所述框架的内轮廓，并相对于所述基准部件(3)是活动的；至少一对(5)的框架紧持机构(11，12)；位置测量与记录部件，其测量并记录所述紧持机构中的一第一紧持机构(11)的位置；与厚度估测部件，其估测所述框架的厚度(e)，并包括所述轮廓测量触探器(19)，其特征在于，所述获取装置包括：移动部件，所述移动部件用于把所述触探器(19)移动到一个与第二紧持机构(12)相接触的位置；以及位置记录部件，其记录所述触探器相应的接触位置，所述估测部件适于利用所述被记录的位置来估测所述框架(2)的厚度(e)。 | ||
| 地址 | 法国拉阿尔谢 | ||