| 发明名称 |
Analysesystem zur Analyse einer Probe auf einem analytischen Testelement |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE502005002762(D1) |
申请公布日期 |
2008.03.20 |
| 申请号 |
DE200550002762T |
申请日期 |
2005.06.22 |
| 申请人 |
ROCHE DIAGNOSTICS GMBH |
发明人 |
STEEG, KLAUS-DIETER;SCHULAT, JOCHEN |
| 分类号 |
G01N33/50;G01N21/55;G02B1/04 |
主分类号 |
G01N33/50 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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