发明名称 Halbleiterstruktur und Verfahren zum Herstellen von dieser
摘要 Eine Halbleiterstruktur umfasst ein Substrat, eine erste Halbleiterfinne, eine zweite Halbleiterfinne und ein erstes schwach dotiertes Draingebiet (LDD-Gebiet). Die erste Halbleiterfinne ist auf dem Substrat angeordnet. Die erste Halbleiterfinne weist eine obere Fläche und Seitenwände auf. Die zweite Halbleiterfinne ist auf dem Substrat angeordnet. Die erste Halbleiterfinne und die zweite Halbleiterfinne sind durch einen nanoskaligen Abstand voneinander getrennt. Das schwach dotierte Draingebiet (LDD-Gebiet) ist zumindest in der oberen Fläche und den Seitenwänden der ersten Halbleiterfinne angeordnet.
申请公布号 DE102015116975(A1) 申请公布日期 2016.10.27
申请号 DE201510116975 申请日期 2015.10.06
申请人 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. 发明人 Tsai, Chun-Hsiung;Yu, Kuo-Feng;Chen, Kei-Wei
分类号 H01L29/78;H01L21/336;H01L21/8234;H01L27/088 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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