| 摘要 |
고속 테스트 클락의 펄스 수 조절 가능한 클락 발생기 구성 방법 및 장치 가 제시된다. 본 발명에서 제안하는 고속 테스트 클락의 펄스 수를 조절하는 클락 발생기 구성 장치는 스캔 인애이블 신호 및 메인 클락 신호를 수신 받아 메인 클락 펄스 수 제어부가 메인 클락 신호에 동기 되도록 하는 메인 클락 동기부, 메인 클락 신호를 생성하고, 상기 메인 클락 펄스 수를 계수하도록 제어하는 메인 클락 펄스 수 제어부, 상기 메인 클락 펄스 수의 계수가 완료 되었을 경우, 계수를 중지하도록 하고 테스트 완료신호를 생성하여 칩 외부에 고속 클락에 의한 테스트 작업이 완료 되었음을 알리는 테스트 완료신호 생성부, 상기 메인 클락 신호 및 스캔 신호를 입력으로 받아 상기 스캔 인애이블 신호에 의해 해당 신호를 출력시키는 클락 신호 선택부를 포함한다. |
