| 摘要 |
Un aspect de l'invention concerne un procédé de caractérisation d'ions comportant : - une étape selon laquelle une pluralité d'ions de première génération est piégée dans un piège ionique ; - une étape selon laquelle la pluralité d'ions de première génération piégée dans le piège ionique est refroidie ; - une étape selon laquelle la pluralité d'ions de première génération refroidis est photo-fragmentée pour l'obtention d'une pluralité d'ions de deuxième génération, la pluralité d'ions de deuxième génération étant différente de la pluralité d'ions de première génération, la pluralité d'ions de deuxième génération étant au moins d'un premier type ; - une étape i) selon laquelle le premier type d'ions de deuxième génération est sélectionné dans le piège ionique en éjectant hors du piège ionique tout ion de première génération résiduel et tout ion de deuxième génération d'un type différent du premier type ; - une étape ii) selon laquelle les ions de deuxième génération du premier type sélectionnés et piégés dans le piège ionique sont refroidis ; - une étape iii) selon laquelle les ions de deuxième génération du premier type refroidis sont photo-fragmentés pour l'obtention d'une pluralité d'ions de troisième génération, la pluralité d'ions de troisième génération étant différente de la pluralité d'ions de deuxième génération, la pluralité d'ions de troisième génération étant au moins d'un premier type ; - une étape selon laquelle la pluralité d'ions de dernière génération est détectée. |
