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发明名称 MICRO-CIRCUIT TEST PROBE
摘要
申请公布号 US4001685(A) 申请公布日期 1977.01.04
申请号 US19740514017 申请日期 1974.10.11
申请人 ELECTROGLAS, INC. 发明人 ROCH, JACQUES LEON
分类号 G01R1/067;(IPC1-7):G01R1/06;G01R31/02 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人
主权项
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