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发明名称 PACKAGE MOUNTED IC TEST EQUIPMENT
摘要
申请公布号 JPS53124080(A) 申请公布日期 1978.10.30
申请号 JP19770039300 申请日期 1977.04.05
申请人 NIPPON ELECTRIC CO 发明人 TOMITA KIYOUJI
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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