MEASURING METHOD FOR Q AND SERIES RSISTANCE OF SEMICONDUC TOR DIODE ELEMENT,申请号JP19770150258-传众专利搜索

发明名称	MEASURING METHOD FOR Q AND SERIES RSISTANCE OF SEMICONDUC TOR DIODE ELEMENT
摘要
申请公布号	JPS5481783(A)	申请公布日期	1979.06.29
申请号	JP19770150258	申请日期	1977.12.13
申请人	MITSUBISHI ELECTRIC CORP	发明人	TAMATOSHI KUNIYOSHI
分类号	G01R31/26;G01R27/00;G01R27/26	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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