发明名称 METHOD OF DETERMINING MASK PATTERN AND EXPOSURE CONDITION STORAGE MEDIUM AND COMPUTER
摘要 본 발명의 결정 방법은, 마스크의 복수의 패턴 요소의 형상을 규정하기 위한 제1 파라미터를 설정하는 스텝과, 유효 광원 분포를 규정하기 위한 제2 파라미터를 설정하는 스텝과, 제1 파라미터 및 제2 파라미터의 값을 변경하면서, 마스크 패턴의 상의 계산 및 평가 항목의 값의 계산의 처리를 반복하여, 마스크 패턴 및 유효 광원 분포를 결정하는 스텝을 포함하며, 패턴 요소의 파라미터는 근접 효과를 나타내는 지표의 값을 이용해서 1개의 파라미터로서 설정된다.
申请公布号 KR101689429(B1) 申请公布日期 2016.12.23
申请号 KR20130143629 申请日期 2013.11.25
申请人 캐논 가부시끼가이샤 发明人 미카미 고지
分类号 H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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