| 发明名称 |
Testing short circuit rotors for defects - using separate contact points and probe for voltage measurement |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE3045195(A1) |
申请公布日期 |
1982.06.03 |
| 申请号 |
DE19803045195 |
申请日期 |
1980.12.01 |
| 申请人 |
SIEMENS AG |
发明人 |
TRAUPE,WERNER,DIPL.-PHYS. |
| 分类号 |
G01R31/34;(IPC1-7):01R31/34;02K15/02 |
主分类号 |
G01R31/34 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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