发明名称 增强之处理器微分支结构
摘要
申请公布号 TW072636 申请公布日期 1985.12.01
申请号 TW073104080 申请日期 1984.10.01
申请人 坦登电脑公司 发明人
分类号 G06F13/00 主分类号 G06F13/00
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.在一资料处理系统之中央处理单位中用以执行微分支之硬体,包括:用以保持一第一位址以作次一所要执行之顺序微指令之装置;用以保持一第二位址以作一快微分支之装置;用以保持一第三位址以作一慢微分支之装置;选择装置用于选择前述第一、第二与第三位址之一,并将其置于控制贮存位址滙流排上;用以响应于微码所选测试状况,控制前述选择装置之装置,微码线抑制装置,响应于执行微分支之微指令中之一抑置微码场及响应于上述用以控制该选择装置之装置,该选择装置系响应于微码所选之测讯状况者,用以选择性抑制微码之许多线中之一线之执行。2.在资料处理系统中之一中央处理机内,其中一微指令使运算元为多阶时间顺序管线中之执行微指令所处理者,用以执行微分支之装置乃包括:第一感测装置,用以确定在微码执行之第一阶所感知之许多第一测试状况中所选定之一种状况及表示必须采用之第一微支型式已经实现;第二感测装置,用以确定在微码执行之第二阶所感知之许多第二测试状况中所选定之一种状况及表示必须采用之第二微支型式已经实现,该微码执行之第二阶发生于较该微码执行之第一阶为后之时间;第一指示器装置,响应于该第一感测装置,用以在所选定之测试状况已实现时,设定为第一状态,及所选定之测试状况未实现时,设定为第二状态;第二指示器装置,响应于该第二感测装置,以在所选定之测试条件已实现时,设定为第一状态,及所选定之测试状况未实现时,设定为第二状态;第一暂存器装置,用以在微支未实施时保存代表次一待执行之微指令之位址之资料;第二暂存器装置,用以在该第一型式之微支已实施时保存代表次一待执行之微指令之位址之资料;第三暂存器装置,用于在该第二型式之微支已实施时保存代表次一待执行之微指令之位址之资料;第一选择装置,响应于该第一及第二指示装置,用以选择下列资料作为待执行之次一微指令之位址;a.设若所选定之第一及第二测试状况均未实现时,该第一暂存器装置内之资料;b.设若所选定之第一测试状况已实现而该所选定之第二测试状况未实现时,该第二暂存器装置内之资料;c.设若所选定之第二测试状况已实现时,该第三暂存器装置内之资料。3.根据上述请求专利部份第2.项之装置,另包括:第二选择装置,响应于执行微支之微指令中之一第一微码场,用以选择供该第二暂存器装置用之一资料源;第三选择装置,响应于执行微支之微指令中之一第二微码场,用以选择供该第三暂存器装置用之一资料源。4.根据上述请求专利部份第2.或3.项所述之装置,另包括微码线抑制装置,响应于执行微支之微指令中之一抑制微码场及该第一及第二指示器装置,用以选择性抑制该管线内之一或更多微码线之执行。5.根据上述请求专利部份第2.,3.或4.项所述之装置,另包括:预测装置,用以在该第一或第二感测装置感测之前预测该所选定之第一或第二测试情况之结果,包括用以显示已作之预测及所预测者是否为所选定之第一或第二测试状况之装置,该预测装置在该第一测试状况被选定时使该第一选择器装置依照该第一测试状况之预测结果设定该第一或第二状态中之一状态,及在该第二测试状况被选定时使该第二选择器装置依照该第二测试状况之预测结果,设定该第一或第二状态中之一状态;错误指示装置,响应于该预测装置及该第一及第二感测装置,以指示该预测并不正确;校正装置,响应于该错误指示装置及该第一及第二感测装置,使受预测影响之第一及第二显示器装置之一在所选定之测试状况已实现时设定该第一状态及在所选定之测试状况未实现时设定该第二状态。
地址 美国
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