发明名称 推論装置及び推論方法
摘要 第1中間層活性度算出部(5)が、第1中間層記憶部(2)に記憶されているインデックスを参照して、入力層活性度算出部(1)により算出された入力層の各ノードでの活性度と第1中間層記憶部(2)に記憶されている各エッジの重み及びバイアス値の中から、第1中間層の各ノードと接続関係がある入力層の各ノードでの活性度と各エッジの重みとバイアス値とを取得し、その取得した入力層の各ノードでの活性度と各エッジの重みとバイアス値とを用いて、第1中間層の各ノードでの活性度を算出する。これにより、推論を行う際の計算量及びメモリ量を削減することができる。また、より高い推論精度を得ることができる。
申请公布号 JP6054005(B1) 申请公布日期 2016.12.27
申请号 JP20160548332 申请日期 2015.08.31
申请人 三菱電機株式会社 发明人 松本 渉;吉村 玄太;趙 雄心
分类号 G06N3/04 主分类号 G06N3/04
代理机构 代理人
主权项
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