| 主权项 |
1.一种「波形轨迹显示式,半固定、可变电阻测试检验仪器」,系由电阻値误差百分此测试电路、正负误差容许范围调谐设定电路、逻辑分类驱动信号电路、检验切换器、电压及电流源供应选择电路等所组成,其特征为一次连贯检测出被测电阻误差百分率,同时利用示波器之轨迹变化,以观测出被测电阻之特性以及杂音等不良发生源,而达到精确、迅速等作业目的者。2.如上述请求专利部份第1项所述之「波形轨迹显示式,半固定、可变电阻测试检验仪器」,其中电阻値误差百分比测试电路之组成包括:差动电位选择电路,即归零调整开关之一,系由切换开关及不同阻値之并列电阻所组成;负回授放大器,系由一可调整偏压放大器及其回授电阻所组成,以放大上述差动电位选择电路所输出之差动电位信号者;第一电晶体,系接受上述负回授放大器之驱动,以作为三段式参考电压源者;可谓式电位补偿电路,即另一归零调整开关,系由一分压之可调电阻、一切换开关、及不同阻値之并列电阻所组成;非反相放大器,系接受上述可调式电位补偿电路电流之输入,经放大后作非反相输出者;第二电晶体,系接受上述非反相放大器之驱动,以作为三段式特定比较电流源者;第一倍率档,即三段式设定阻値倍率控制开关之一,系由切换开关及不同阻値之并列电阻所共同组成;可调式设定标准电阻RS,系为连续可谓串联标准电阻;四端RX插座及其上之被测电阻RX;延线后形成短路之电阻R1.R2.R3.R4,连同上述第一倍率档、可调式设定标准电阻RS、被测电阻RX等形成一检测用之闭回路(ClosedLoop);第二倍率档,即另一三段式设定阻値倍率控制开关,系由切换开关及不同阻値并列电阻同共组成,除连接上述闭回路外,并作为上述非反相放大器之另一输入端者;以及三段式负回授电路,系由一放大器及由解析范围分段选择开关所构成之回授电路所共同组成,系作为百分比极限控制者,同时放大器之输出端并连接至误差显示器;上述差动电位选择电路、负回授放大器、第一电晶体等共同组成一参考电压源;而上述可调式电位补偿电路、非反相放大器、第二电晶体等共同组成一参考电流源;而上述闭回路经由参考电压源及参考电流源提供电压、电流后,经比较连续可调标准电阻RS及被测电値RX,并产生一电位差,经由三段式负回授电路输出,以达到量测之目的为其特征名。3.如上述请求专利部份第1项所述之「波形轨迹显示式,半固定、可变电阻测试检验仪器」,其中正负误差容许范围调谐设定电路为目视型数字显示式,系接受上述三段式负回授电路之输出信号,与解析范围分段选择开关配合作成一极限内可谓范围値,以供良品与不良品之判别及信号输出,其组成包括:第一设定允差范围电路,系由一输入正电压之放大器及刻度盘式微调控制旋钮VR1所共同组成,放大器之输出端并有信号输送至误差显示器;第二设定允差范围电路,系由一输入负电压之放大器及刻度盘式微调控制旋钮VR2所共同组成,放大器之输出端并有信号输送至误差显示器;第一比较器,系用以比较包括上述三段式负回授电路及第一设定允差范围电路之输出端所输出之信号者;第二比较器,系用以比较包括上述三段式负回授电路及第二设定允差范围电路之输出端所输出之信号者;以及第三比较器,系用以比较包括上述三段式负回授电路及参考电位之输出端所输出之信号者;4.如上述请求专利部份第1项所述之「波形轨迹显示式,半固定、可变电阻测试检验仪器」,其中逻辑分类驱动信号电路系用以接受上述正负误差容许范围调谐设定电路之信号,以分别指示出受测电阻之状况者,其中包括:逻辑信号处理电路,系由若干逻辑闸所组成,以接受上述第一比较器、第二比较器、第三比较器等之输出信号并作处理者;第一指示装置,系由LED1一第三电晶体、及由第三电晶体所驱动之第一继电器所组成,当被测电阻RX抵抗値允差属刻度盘式微调控制旋钮VR1与VR2所调谐设定之正负误差许可范围内之良品时,第一指示装置受上述逻辑信号处理电路之驱动,点亮LED1,并启动第一继电器;第二指示装置,系由LED2.第四电晶体、及由第四电晶体所驱动之蜂鸣器所组成,当被测电阻RX抵抗値允差属刻度盘式微调控制旋钮VR1与VR2所调谐设定之正负误差许可范围外之不良品时,第二指示装置受上述逻辑信号处理电路之驱动,点亮LED2,并驱动蜂鸣器动作;以及第三指示装置,系由光电藕合装置及LED3所组成,当被测电阻RX与测试治具间之衔接状况良好时,即驱动LED3亮。5.如上述请求专利部份第1项所述之「波形轨迹显示式,半固定、可变电阻测试检验仪器」,其中检验切换器可将电阻带之R値转换为固定之X値,因此在检验R带时,并不受电阻値多寡之影响,使得R带归入水平范围波形,如果R带电阻分布不均时,即产生超出水平范围而R带上油渍附着刮伤等状况,以资判别良品与否,又上述检验切换器主要包括:四组开闭组合继电器,系由第二继电器及四组接点所组成,其中第一接点提供接地电位给第二继电器,使具自动复归能力,其余接点则确定常闭状态时,四组开闭组合继电器之RXA'端与RXB'端能分别连接至上述被测电阻之二端侧RXA、RXB,以检测受测电阻RX全电阻抵抗値及误差百分率,当检知被测电阻RX为良品时,四组开闭组合继电器并接受第一继电器输出信号所驱动,且此时各组接点之中心点与常开点相接通,以从第一电晶体、第二电晶体输入定电流源及电压源者;第三继电器,系提供一正电源予检验切换器者;以及示波器,与上述四组开闭组合继电器之第三、第四接点连接,由示波器之波形轨迹变化中,可切确观测出破测电阻RX之特性及杂音等异常源者。6.如上述请求专利部份第1项所述之「波形轨迹显示式,半固定、可变电阻测试检验仪器」,其中电压及电流源供应选择电路包括有:稳压于IC,可供给+12V之电位予相关电路所需;定电流选择电路;以及定电压选择电路。7.如上述请求专利部份第2.3项所述之误差显示器,系将上述闭回路(CIose Loop)之检知信号,经由类比/数位转换后,再以数字型显示器显示,由于误差显示器系由上述三段式负回授电路之解析范围分段选择开关所控制,可分别作小数点以下一位、二位、三位之精确解析调整,又误差显示器左边之"+"、"-"符号系表示误差百分比之正负,而在无测试之状况下,误差显示器之显示値应为+12%-+15%之间。 |
