发明名称 |
多波长分光光度计 |
摘要 |
从光源射出的光通过光栅被色散。用两个多通道光检测器来检测被色散的光。在相互重迭的波长范围内,用一个光探测器检测第一干涉级次,用另一个光探测器检测第二干涉级次。对两个光探测器的输出进行平均值运算以改进信号/噪声比,特别是在光源的发光强度较低的波长范围内。 |
申请公布号 |
CN85101174B |
申请公布日期 |
1987.03.25 |
申请号 |
CN85101174 |
申请日期 |
1985.04.01 |
申请人 |
株式会社日立制作所 |
发明人 |
野上太郎 |
分类号 |
G01J3/18;G01J3/36;G01J3/46 |
主分类号 |
G01J3/18 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利代理部 |
代理人 |
董毅民 |
主权项 |
1、多波长分光光度计,特别是用于液相色层分析,包括光源(1),采样盒(3),用于对从所说的氘灯光源(1)射出的光束进行色散的光栅(5)和用于在第一波长范围内检测被所说的光栅(5)所色散的光的第一多通道光探测器,其特征在于利用第二个多通道光探测器(7)在第二波长范围内检测被所说的光栅(5)所色散的光,第二波长范围与所说的第一波长范围至少部分重叠,上述第二多通道光探测器(7)利用了与所说的第一多通道光探测器(6)所检测到的上述光的不同干涉级次的光能检测所说的光,并利用处理器(8)来平均所说的第一和第二光探测器(6,7)的每一个输出信号。 |
地址 |
日本东京都千代田区神田骏河台四丁目6番地 |