发明名称 多波长分光光度计
摘要 从光源射出的光通过光栅被色散。用两个多通道光检测器来检测被色散的光。在相互重迭的波长范围内,用一个光探测器检测第一干涉级次,用另一个光探测器检测第二干涉级次。对两个光探测器的输出进行平均值运算以改进信号/噪声比,特别是在光源的发光强度较低的波长范围内。
申请公布号 CN85101174B 申请公布日期 1987.03.25
申请号 CN85101174 申请日期 1985.04.01
申请人 株式会社日立制作所 发明人 野上太郎
分类号 G01J3/18;G01J3/36;G01J3/46 主分类号 G01J3/18
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人 董毅民
主权项 1、多波长分光光度计,特别是用于液相色层分析,包括光源(1),采样盒(3),用于对从所说的氘灯光源(1)射出的光束进行色散的光栅(5)和用于在第一波长范围内检测被所说的光栅(5)所色散的光的第一多通道光探测器,其特征在于利用第二个多通道光探测器(7)在第二波长范围内检测被所说的光栅(5)所色散的光,第二波长范围与所说的第一波长范围至少部分重叠,上述第二多通道光探测器(7)利用了与所说的第一多通道光探测器(6)所检测到的上述光的不同干涉级次的光能检测所说的光,并利用处理器(8)来平均所说的第一和第二光探测器(6,7)的每一个输出信号。
地址 日本东京都千代田区神田骏河台四丁目6番地