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发明名称 TESTING CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPS6327775(A) 申请公布日期 1988.02.05
申请号 JP19860172189 申请日期 1986.07.21
申请人 NEC IC MICROCOMPUT SYST LTD 发明人 ISOZAKI TOMOAKI
分类号 H01L21/66;G01R31/28;H01L21/822;H01L27/04;H01L27/10 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
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