发明名称 Sockets for memory testing device
摘要 본 발명은 메모리 테스트용 소켓장치에 관한 것으로, 래치의 구조를 이중 회전구조로 구성하여 좌우 길이는 동일하나 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리를 모두 수용하여 가압할 수 있도록 함으로써 하나의 메모리 테스트 소켓을 통해 상하 길이가 다른 다양한 종류의 메모리 테스트가 가능하도록 함에 그 목적이 있다. 이를 위해 구성되는 본 발명은 상용 소켓보드 상에 실장된 하나 이상의 메모리 소켓이 상부측으로 삽입 노출되도록 소켓 노출공이 다수 형성되어 상용 소켓보드 상부측에 설치 고정되는 베이스 플레이트; 소켓 노출공의 길이 방향 양측 각각에 대향 설치되어지되 대향면 상에는 상하로 가이드홈이 형성된 한 쌍의 지지부라켓; 지지부라켓 각각의 가이드홈 상에 상하 이동 가능하게 설치되어지되 대향면에는 메모리가 장착되는 슬롯이 하나 이상 형성된 이젝터 겸용 소켓; 지지브라켓 각각에 내외로 회전 가능하게 설치되어 내외로 회전을 통해 이젝터 겸용 소켓을 하강 또는 상승시키는 한 쌍의 승강용 래치; 승강용 래치의 외측방향 회전시 이젝터 겸용 소켓을 상향으로 이동시켜 메모리를 이젝트시키는 메모리 이젝트수단; 승강용 래치 각각에 내외로 회전 가능하게 설치되어 메모리를 상용 소켓보드의 메모리 소켓으로 가압하는 한 쌍의 가압용 래치; 가압용 래치의 대향면 각각에 설치되어 메모리의 양측 상단을 가압하는 하나 이상의 메모리 가압부재; 가압용 래치의 내외 회전시 회전을 가이드하는 회전 가이드수단; 및 한 쌍의 승강용 래치를 연결하여 내외로 회전시 동시에 자동되도록 하는 작동링크의 구성으로 이루어진다.
申请公布号 KR101659322(B1) 申请公布日期 2016.10.04
申请号 KR20140185773 申请日期 2014.12.22
申请人 (주)솔리드메카 发明人 김태완;이원식
分类号 H01R33/76;H01R12/71 主分类号 H01R33/76
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利