发明名称 回转铁相分析仪系统
摘要 一种铁相分析仪系统,其包括:一回转盘,其上端具有一磁铁环组;一回转驱动装置,其用以驱动该回转盘回转;一载片,其置于该回转盘之磁铁环组之上面;一导入器,其置于离该载片一既定距离之上方;一供应装置,其抽取样品油供应该导入器;一控制器,其用以控制该回转驱动装置及该供应装置之动作。
申请公布号 TW166370 申请公布日期 1991.08.11
申请号 TW078208533 申请日期 1989.08.31
申请人 行政院国家科学委员会 台北巿和平东路二段 一○六号十八楼 发明人 邱源成
分类号 G01N17/00 主分类号 G01N17/00
代理机构 代理人 周良谋 新竹巿林森路二七八号十二楼之一;洪澄文 台北巿信义路四段二七九号三楼
主权项 1.一种铁相分析仪系统,其包括:一回转盘,其上端具有一磁铁环组;一回转驱动装置,其用以驱动该回转盘回转;一载片,其置于该回转盘之磁铁环组之上面;一导入器,其置于离该载片一既定距离之上方;一供应装置,其抽取样品油供应该导入器;一控制器,其用以控制该回转驱动装置及该供应装置之动作。2.如申请专利范围第1项所述之系统,其中,该控制器控制该回转驱动装置作无段变速。3.如申请专利范围第1或2中之一项所述之系统,其中,该磁铁环组具有二个以上之同心配置之磁铁环;该载片为圆形,其直径大于最外层磁铁环之外径。4.如申请专利范围第3项所述之系统,其中,该磁铁环为钐钴系磁铁。
地址 台北巿和平东路二段一○