| 发明名称 |
DIGITAL TEST TECHNOLOGY FOR PHASE-LOCKED LOOP OF VERY HIGH FREQUENCY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH07120533(A) |
申请公布日期 |
1995.05.12 |
| 申请号 |
JP19920190743 |
申请日期 |
1992.07.17 |
| 申请人 |
NATL SEMICONDUCTOR CORP <NS> |
发明人 |
HII UON;TSUNNKITSUTO CHIN |
| 分类号 |
G01R31/28;H03L7/06;H03L7/08;H03L7/099 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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