发明名称 制造具有至少一金氧半电晶体之积体电路的方法
摘要 于含有源极区域基片之主面上生成绝缘层。于前述绝缘层上设置有局部曝露前述源极区域之第1开孔。至少含有MOS电晶体之通道区域及汲极区域之垂直序(layersequence)以原地掺杂质法藉半导体材料之晶膜成长而形成于该第1开孔内。深度至少相当于汲极区域及通道区域厚度之和的第3开孔生成于层结构上,闸介电体加于其表面上,接着再于该闸介电体上加上闸电极。
申请公布号 TW274635 申请公布日期 1996.04.21
申请号 TW083109590 申请日期 1994.10.15
申请人 西门斯股份有限公司 发明人 卡尔赫夫曼;法兰兹赫夫曼;汤姆斯弗格森;罗萨瑞屈
分类号 H01L21/335 主分类号 H01L21/335
代理机构 代理人 郑自添 台北巿敦化南路二段七十七号八楼
主权项
地址 德国