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发明名称
制造具有至少一金氧半电晶体之积体电路的方法
摘要
于含有源极区域基片之主面上生成绝缘层。于前述绝缘层上设置有局部曝露前述源极区域之第1开孔。至少含有MOS电晶体之通道区域及汲极区域之垂直序(layersequence)以原地掺杂质法藉半导体材料之晶膜成长而形成于该第1开孔内。深度至少相当于汲极区域及通道区域厚度之和的第3开孔生成于层结构上,闸介电体加于其表面上,接着再于该闸介电体上加上闸电极。
申请公布号
TW274635
申请公布日期
1996.04.21
申请号
TW083109590
申请日期
1994.10.15
申请人
西门斯股份有限公司
发明人
卡尔赫夫曼;法兰兹赫夫曼;汤姆斯弗格森;罗萨瑞屈
分类号
H01L21/335
主分类号
H01L21/335
代理机构
代理人
郑自添 台北巿敦化南路二段七十七号八楼
主权项
地址
德国
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