| 发明名称 |
DEVICE FOR ANALYZING FAULT OF INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH08136624(A) |
申请公布日期 |
1996.05.31 |
| 申请号 |
JP19940301630 |
申请日期 |
1994.11.11 |
| 申请人 |
NEC CORP |
发明人 |
KURODA HIDEHIKO;NAKAMURA TOYOICHI |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G01R31/302;G06F11/22;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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