| 主权项 |
1. 一种粒子测定装置,具备有:以保持气密性地自由滑动之状态配置在2个试料容器中间,且具有连通该等容器间之贯穿孔之滑动板;以及配置在前述双方之试料容器内,可与由试料容器搬送之试料悬浮液接触之一对电极;利用该等电极,测定试料悬浮液通过贯穿孔之际产生之电阻抗,依据该电阻抗,测定试料悬浮液中之粒子之粒子测定装置;其中,前述滑动板之贯穿孔,乃由具有可选择之复数不同口径之贯穿孔群形成者。2. 如申请专利范围第1项之粒子测定装置,其中,该贯穿孔系在滑动板上,将其于大约同心圆上配置,由外部加以驱动,令其旋转,藉以设成可选择贯穿孔之构成者。3. 如申请专利范围第1项记载之粒子测定装置,其中,该贯穿孔系在滑动板,向大约一轴方向配置,由外部加以驱动,令其向一轴方向移动,藉以设成可选择贯穿孔之构成者。4. 如申请专利范围第1项之粒子测定装置,其中,该滑动板之贯穿孔穿设部分,系各自具在开口两端部向外方扩大之锥形面者。5. 如申请专利范围第1项之粒子测定装置,其中,该滑动板之至少贯穿孔穿设部分系由红宝石或陶瓷形者。6. 如申请专利范围第1项记载之粒子测定装置,其中,该滑动板系具备有可与试料容器密贴之凸部,而贯穿孔即形成在该凸部者。图示简单说明:图1系依据本创作一实施例之粒子测定装置之概略构成图。图2系该粒子测定装置上滑动板正面图。图3系提示该粒子测定装置其测定方法之流程图。图4系依据图3之测定方法,获得之粒径分布测定解析结一例之粒子分布图表。图5系依据图3之测定方法,获得之粒径分布测定解析结一例之粒子分布图表。图6系依据图3之测定方法,获得之粒径分布测定解析结一例之粒子分布图表。图7系依据图3之测定方法,获得之粒径分布测定解析结一例之粒子分布图表。图8系表示该粒子测定装置中滑动板之另外实施例之正面图。图9系图8之滑动板之侧面图。图10系图9之一部分扩大图。图11系使用图8之滑动板之粒子测定装置其概略构成图。图12系提示该粒子测定装置中滑动板之另外实施例之正面图。图13系图12中之滑动板之测面图。图14系表示粒子测定装置另外之实施例之概略构成图。图15系图14之粒子测定装置中滑动板之正面图。图16系提示该滑动板另外之实施例之正面图。图17系图16之滑动板正面图。图18系提示对应于图16之滑动板更另外实施例之正面图。图19系图18之滑动板之正面图。图20系依据本创作更另外实施例之粒子测定装置之概略构成图。图21系依据本创作更另外实施例之滑动板之正面断面图。 |
