| 主权项 |
2. 如申请专利范围第1项之检验电路(33),其中在检验期间受检验之电子电路(31)为正常时,则经由电阻元件(21)和同一电路节点(3)相连接之各接点(1)具有相同之信号。3. 如申请专利范围第1或第2项之检验电路(33),其中检验电路(33)是电子电路(31)之组成部份。4. 如申请专利范围第1或第2项之检验电路(33),其中检验电路(33)是测试设备(32)之组成部份。5. 如申请专利范围第1或第2项之检验电路(33),其中检验电路(33)配置在插入式之电路板(34)上。6. 如申请专利范围第1或第2项之检验电路(33),其中电阻元件(21)具有一主动式电阻。7. 如申请专利范围第6项之检验电路(33),其中电阻元件(21)是电晶体元件。8. 如申请专利范围第1或第2项之检验电路(33),其中电阻元件(21)具有一被动式电阻。9. 如申请专利范围第8项之检验电路(33),其中电阻元件(33),其中电阻元件(21)是欧姆电阻。10. 如申请专利范围第9项之检验电路(33),其中欧姆电阻(21)有68欧姆之电阻値。11. 如申请专利范围第1或第2项之检验电路(33),其中具有共同电路节点(3)之电阻元件(21)有相同之电阻値。12. 如申请专利范围第1或第2项之检验电路(33),其中具有共同电路节点(3)之电阻元件(21)有不同之电阻値。13. 如申请专利范围第1或第2项之检验电路(33),其中电阻元件(21)为一短路元件。14. 如申请专利范围第1或第2项之检验电路(33),其中电路节点(3)经由另一电阻元件(22)和固定电位(41)相连接。15. 如申请专利范围第3项之检验电路(33),其中电路节点(3)经由另一电阻元件(22)和固定电位(41)相连接。16. 如申请专利范围第4项之检验电路(33),其中电路节点(3)经由另一电阻元件(22)和固定电位(41)相连接。17. 如申请专利范围第5项之检验电路(33),其中电路节点(3)经由另一电阻元件(22)和固定电位(41)相连接。18. 一种检验电子电路(31)功能之检验方法,电路(31)上具有多个输出(1),此方法系利用前几项申请专利范围中之检验电路(33)来进行,此处电子电路(31)设定成信号位于其即将检验之各输出(1)点上,其特征为,可对在共同电路节点(3)上自我调整而产生之信号(5)进行功能检验。图示简单说明:图1至图3为本发明之各种实施形成。 |
