发明名称 检测平面伪币的方法与装置
摘要 一种检测平面伪币的方法与装置,系于传统只能检测硬币材质、外径及厚度的磁性感测装置外,再配置一光电感测装置。藉由真假哽币表面之差异,产生不同之反射光讯号,而分办出平面与花纹表面之硬币,以提高伪币检测之可靠度。本发明装置包括:至少一磁性感测装置,用以检测硬币的材质、外径与厚度,并将检测结果输出;至少一光电感测装置,用以检测硬币的表面,并将检测结果输出;以及一处理单元,藕接至磁性感测装置与光电感测装置,用以接收磁性感测装置与光电感测装置的检测结果,据以判定硬币是否系伪币,且依据接收到的磁性感测装置之检测结果控制光电感测装置是否须对硬币进行检测。
申请公布号 TW300983 申请公布日期 1997.03.21
申请号 TW085113325 申请日期 1996.11.01
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 郭诗坪;谢东富;谢树峥
分类号 G07D5/02 主分类号 G07D5/02
代理机构 代理人
主权项 1. 一种检测平面伪币的方法,用以判定一硬币是否为伪币;该方法包括下列步骤:(a) 利用一第一感测装置检测该硬币的表面花纹,得到一第一检测数値;以及(b) 将该第一检测数値与一预定的数値比较,若该第一检测数値与该预定的数値不符,则判定该硬币为伪币。2. 如申请专利范围第1项所述之方法,其中,该第一感测装置包括至少一光电感测装置。3. 如申请专利范围第1项所述之方法,其中该步骤a更包括利用一第二感测装置检测该硬币的材质、外径、厚度,得到一第二检测数値;以及该步骤b更包括将该第一与第二检测数値与该预定的数値比较,若该第一与第二检测数値均与该预定的数値符合,则判定该硬币为真币。4. 如申请专利范围第3项所述之方法,其中,该第二感测装置包括至少一磁性感测装置。5. 一种检测平面伪币的装置,用以检测一硬币是否为伪币;该装置包括:至少一光电感测装置,用以检测该硬币的表面花纹,并将检测结果输出;以及一中央处理单元,藕接至该光电感测装置,用以接收该光电感测装置的检测结果,据以判定该硬币是否系伪币。6. 如申请专利范围第5项所述之装置,其中,该光电感测装置包括:一发光元件,用以产生一发射光;一组光纤,藕接该发光元件,用以导引该发射光;一镜片模组,藕接该组光纤,用以使该发射光形成一入射光,聚焦在该硬币表面,之后该入射光再形成一反射光,其中部份该反射光经由该镜片模组传输至该组光纤;以及一检光器,藕接该组光纤,用以接收该组光纤导引来之部份该反射光,将之转换成电讯号输出予该中央处理单元。7. 如申请专利范围第6项所述之装置,其中,该发光元件为发光二极体。8. 如申请专利范围第6项所述之装置,其中,该发光元件为雷射二极体。9. 如申请专利范围第6项所述之装置,其中,该检光器为光二极体感测器。10. 如申请专利范围第6项所述之装置,其中,该检光器为光电晶体感测器。11. 如申请专利范围第6项所述之装置,其中该组光纤系一组同轴光纤。12. 如申请专利范围第11项所述之装置,其中,该组同轴光纤包括:一轴心入射光纤,用以导引该入射光至该镜片模组;以及一组周边接受光纤,用以导引该部份反射光至该检光器。13. 如申请专利范围第12项所述之装置,其中该镜片模组包括:一镜筒,作为该镜片模组之外壳;一凸透镜,置于该镜筒的内部,用以使该入射光聚焦至该硬币表面,并使部份该反射光传输至该组同轴光纤;一间隔环,藕接该光纤与凸透镜,用以调整该光纤之端面与该凸透镜之距离,以控制该光纤与凸透镜的正确聚焦位置;以及一接头,用以藕接该镜筒与同轴光纤。14. 如申请专利范围第6项所述之装置,其中,该入射光与该硬币之行经路径的夹角系可调整,以决定该光电感测装置的临界检测条件。15. 一种检测平面伪币的装置,用以检测一硬币是否为伪币;该装置包括:至少一磁性感测装置,用以检测该硬币的材质、外径与厚度,并将检测结果输出;至少一光电感测装置,用以检测该硬币的表面花纹,并将检测结果输出;以及一中央处理单元,藕接至该磁性感测装置与光电感测装置,用以接收该磁性感测装置与光电感测装置的检测结果,据以判定该硬币是否系伪币,且依据接收到的该磁性感测装置之检测结果控制该光电感测装置是否须对该硬币进行检测。16. 如申请专利范围第15项所述之装置,其中,该光电感测装置包括:一发光元件,用以产生一发射光;一组光纤,藕接该发光元件,用以导引该发射光;一镜片模组,藕接该组光纤,用以使该发射光形成一入射光,聚焦在该硬币表面,之后该入射光再形成一反射光,其中部份该反射光经由该镜片模组传输至该组光纤;以及一检光器,藕接该组光纤,用以接收该组光纤导引来之部份该反射光,将之转换成电讯号输出予该中央处理单元。17. 如申请专利范围第16项所述之装置,其中,该发光元件为发光二极体。18. 如申请专利范围第16项所述之装置,其中,该发光元件为雷射二极体。19. 如申请专利范围第16项所述之装置,其中,该检光器为光二极体感测器。20. 如申请专利范围第16项所述之装置,其中,该检光器为光电晶体感测器。21. 如申请专利范围第16项所述之装置,其中该组光纤系一组同轴光纤。22. 如申请专利范围第21项所述之装置,其中,该组同轴光纤包括:一轴心入射光纤,用以导引该入射光至该镜片模组;以及一组周边接受光纤,用以导引该部份反射光至该检光器。23. 如申请专利范围第22项所述之装置,其中该镜片模组包括:一镜筒,作为该镜片模组之外壳;一凸透镜,置于该镜筒的内部,用以使该入射光聚焦至该硬币表面,并使部份该反射光传输至该组同轴光纤;一间隔环,藕接该光纤与凸透镜,用以调整该光纤之端面与该凸透镜之距离,以控制该光纤与凸透镜的正确聚焦位置;以及一接头,用以藕接该镜筒与同轴光纤。24. 如申请专利范围第15项所述之装置,其中,该入射光与该硬币之行经路径的夹角系可调整,以决定该光电感测装置的临界检测条件。图示简单说明:第1图是依照本发明较佳实施例的一种硬币检测装置之配置示意图。第2图绘示的是应用本发明之一种硬币检测流程图。第3图系绘示图1中之一种光电感测装置11的构件配置图。第4图系绘示图3中之一种镜片模组32之组合元件示意图。第5图系绘示图3中之一种同轴光纤33的剖面示意图。第6图系绘示应用本发明检测真硬币时之示意图。第7图绘示应用本发明检测真硬币所得之光电检测讯号波形图。第8图系绘示应用本发明检测伪硬币时之示意图。第9图系绘示应用本发明检测伪币所得之光电检测讯号波形图。第10图系绘示应用本发明之另一较佳实施例,在硬币通道
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