发明名称 DEVICE FOR TESTING FLAT MATERIALS
摘要 <p>Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Kontrolle von Flächenmassen während der Produktion von Materialbahnen mittels einer Strahlungsquelle, welche die Materialbahn oder das Meßgut durchstrahlt und Detektion der Reststrahlung auf der der Strahlungsquelle gegenüberliegenden Seite des Meßgutes mit Hilfe eines gasgefüllten Ionisationsdetektors. Durch die Erfindung soll eine Vorrichtung zur Kontrolle von Flächenmassen geschaffen werden, welche die Mängel des Standes der Technik vermeidet und die insbesondere eine möglichst detaillierte Information über die Flächenmasse liefert. Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoranordnung (3) aus einer Mehrzahl von miteinander in Verbindung stehenden und Sammelelektroden (5) aufweisenden Sektionen (3) besteht, die innerhalb eines gemeinsamen Gehäuses (2) angeordnet sind, daß die Sektionen (3) gemeinsam evakuierbar und mit einem ionisierbaren Gas befüllbar sind, daß den Sektionen (3) jeweils ein Strahleneintrittsfenster (9) zugeordnet ist und daß die den Sektionen (3) zugeordnete Strahlungsquelle (15) eine linienförmige Strahlunsverteilung aufweist.</p>
申请公布号 WO1997021075(A2) 申请公布日期 1997.06.12
申请号 DE1996002314 申请日期 1996.12.03
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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