发明名称 藉由利用含矽化合物以改良多晶矽及多晶矽化物电浆蚀刻应用之异向性
摘要 在使用含有卤素蚀刻气体之含矽材料的蚀刻过程中,加入含矽气体至蚀刻体中以提供在蚀刻时增加之侧壁保护。适宜地在过蚀刻步骤中可加入高达50体积百分比含矽气体,如矽烷,改良蚀刻之异向性及预防在矽基材介面之刮痕。
申请公布号 TW316996 申请公布日期 1997.10.01
申请号 TW085109459 申请日期 1996.08.05
申请人 应用材料股份有限公司 发明人 帕提H.I.蔡;钱学俞;戴尔A.欧尔森
分类号 H01L21/02 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人 康伟言 台北巿南京东路三段二四八号七楼;恽轶群 台北巿松山区南京东路三段二四八号七楼
主权项 1.一种以含卤素蚀刻气体蚀刻含矽材料之方法,其改良处包含在蚀刻气体中加入含矽气体。2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该含矽材料为多矽化物。3.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该含矽材料为一耐火金属矽化物。4.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该含矽材料为耐火金属矽化物-多矽化物叠层。5.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该含矽材料为矽烷(SiH4)。6.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该含矽气体在过蚀刻步骤中加入。7.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该蚀刻气体包含氯。8.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该蚀刻气体为一包含氯及溴化氢之混合物。9.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该用以加至蚀刻气体之含矽气体的量为高达50体积百分比。图示简单说明:第一A图为习知技艺之矽线说明刮痕之横切面图;第一B图为习知技艺之矽线说明弓形侧壁之横切面图;第一C图为习知技艺之矽线说明线宽损失之横切面图;第二图为说明适于此处使用之反应室的横切面图;第三A及三B图为分别说明未加入及加入额外矽烷至蚀刻气体中之蚀刻多晶化物断面的横切面图;第四A、四B及四C图为分别说明未加入、加入4%体积百分比矽烷、及加入8%体积百分比矽烷至蚀刻气体中之蚀刻多晶化物断面的横切面图。
地址 美国