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形成阻体图样之方法
摘要
一种藉由使用化学放大阻体形成阻体图样的方法,该阻体包含一硷不溶基质聚合物或共聚物及一酸产生剂,其中该阻体以以一有机硷性显像剂在一于分子中含有较高烷基之界面活性剂存在下显像阻体膜上该图样化暴露膜,此阻体图样在不具有如断裂或剥离之缺点,且因此可有利用于半导体装置如LSIs及VLSIs的生产。
申请公布号
TW329030
申请公布日期
1998.04.01
申请号
TW086102729
申请日期
1997.03.06
申请人
富士通股份有限公司
发明人
武智敏
分类号
H01L21/312
主分类号
H01L21/312
代理机构
代理人
康伟言 台北巿南京东路三段二四八号七楼
主权项
地址
日本
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