发明名称 温度检测电路
摘要 本发明以提供不受电源电压变化的影响,而因应于温度产生输出信号之温度检测电路为目的。本发明之装置由因应于温度变化产生两端电压的二极体7,连接于二极体7的阳极之第1电阻8,第2电阻9,施加定电压于第1及第2电阻8及9之第1及第2电晶体10及11,供给第1及第2电阻8及9之电流的第3及第4电晶体12及13,基极施加了第3及第4电晶体12及13之射极电流的第5及第6电晶体14及15,以及基极施加了第5及第6电晶体14及15之射极电压的第7及第8电晶体16及17等构成,其输出端子20的输出电流将因应于温度变化而改变。
申请公布号 TW353165 申请公布日期 1999.02.21
申请号 TW084101018 申请日期 1995.02.08
申请人 三洋电机股份有限公司 发明人 栗原信二
分类号 G11B33/14 主分类号 G11B33/14
代理机构 代理人 洪武雄 台北巿城中区武昌街一段六十四号八楼
主权项 1.一种温度检测电路,系由:阴极接地之二极体,及一端连接于该二极体的阳极之第1电阻,及一端为接地的第2电阻,及射极连接于前述第1及第2电阻之各个另一端而其基极施加以偏压电压的第1及第2电晶体,及以该第1及第2电晶体的集极电流做为输入信号,而因应于前述输入信号产生输出信号的电流演算电路;所构成,为特征者。2.如申请专利范围第1项之温度检测电路,其中前述电流演算电路系由:集极及基极连接于电源,其射极连接于前述第1及第2电晶体之各个集极的第3及第4电晶体,及基极连接于前述第1电晶体之集极的第5电晶体,及集极连接于前述第5电晶体的集极,基极连接于前述第2电晶体之集极的第6电晶体,及连接于前述第5电晶体之射极的第1定电流源,及基极连接于前述第5电晶体的射极,而集极连接于前述第6电晶体之射极的第7电晶体,及基极连接于前述第6电晶体之射极,而射极连接于前述第7电晶体之射极,并于其集极产生输出信号的第8电晶体,以及连接于前述第7及第8电晶体的共通射极之第2定电流源;所构成者。3.如申请专利范围第1项或第2项之温度检测电路,系以使用于MD系统为其特征者。图式简单说明:第一图表示本发明一实施例的电路图。第二图表示习用例的电路图。
地址 日本