| 主权项 |
1.一种IC测试装置,即在被测试IC之电流流出侧之电源接头与共同电位点间,连接电流检测电阻器,与该电流检测电阻器并联连接短路开关,上述被测试IC消耗大电流状态,以上述短路开关将其大电流旁通,并在上述短路开关为切断状态,测定上述电流检测电阻器产生之电压,由该电压値测定上述被测试IC之静止时之电流,依其电流値是否为所定値以下以判定IC之良否之IC测试装置,其特征为:设将上述短路开关控制于切断状态之控制模式中,检测上述电流检测电阻器产生之电压上昇至所定値以上,控制将上述短路开关恢复接通状态之控制装置,及设于自接通状态将上述短路开关控制于切断状态之控制电路,迟延上述短路开关反转于切断之动作,缓缓改变为切断状态之迟延控制装置之构造。2.如申请专利范围第1项所述之IC测试装置中,以并联设复数上述短路开关。3.如申请专利范围第1或2项所述之IC测试装置之任一中,以并联设复数电阻値不同之电流检测电阻器,以串联将量程转换开关连接于此等复数电流检测电阻器,由选择将该量程转换开关控制为接通状态,即可转换电流测定量程所构成。4.如申请专利范围第1或2项所述之IC测试装置之任一中,以将上述短路开关控制为切断状态,以一定时间间隔取样上述电流检测电阻器产生之电压,其取样値之变化量为所定値以上时判定上述被测试IC为不良,而所定値以下时判定为良之判定装置所构成。图式简单说明:第一图:显示依本发明之IC测试装置之一实施例之连接图。第二图:说明依本发明之IC测试装置之动作之波形图。第三图:说明设复数第一图所示短路开关时之短路开关配置之平面图。第四图:说明先前技术之连接图。第五图:说明第四图之动作之波形图。第六图:显示先前之技术之其他例之连接图。 |
