| 主权项 |
1.一种用于定性与/或定量地测量分析物之装置,该等分析物尤指生物型样品方面,此装置藉由受体与配合体之结合,使用一用于在样品处产生一磁场之磁化装置,并具有一用于测量样品磁性性质之侦测装置,特征在于该磁化装置(11′;11〞)于空间相对于该侦测装置(71.8.9.10;16;20)分开地安置,使该磁化装置(11′,11〞)于磁化处所产生之磁场,于测量期间在样品占据处至少被减弱10倍。2.如申请专利范围第1项之装置,特征在于该磁场被减弱1000倍或更多。3.如申请专利范围第1项或第2项之装置,特征在于设有一装置(17;17′)来于侦测装置(71.8.9.10;16;20)之测量阶段期间移动样品(12)。4.一种用于定性与/或定量地测量分析物之装置,该等分析物尤指生物型样品方面,此装置藉由受体与配合体之结合,使用一用于在样品处产生一磁场之磁化装置,并具有一用于测量样品磁性性质之侦测装置,其中设置一线路,使可关断样品(12)处磁化装置(11)之磁场一段预定时间,尤宜于侦测装置(71.8.9.10;16;20)之测量阶段期间,并且设置一装置(17;17′)来于该侦测装置(71.8.9、10;16;20)之测量阶段期间移动样品(12)。5.一种用于定性与/或定量地测量分析物之装置,该等分析物尤指生物型样品方面,此装置藉由受体与配合体之结合,使用一用于在样品处产生一磁埸之磁化装置,并具有一用于测量样品磁性性质之侦测装置,其中设置一开关装置,其可关断样品(12)处磁化装置(11)之磁场一段预定长度之时间,尤其系于侦测装置(71.8.9.10;16)之测量阶段期间,其中该开关装置具有一第一装置来接通与关断磁化装置(11)中所产生之磁场,以及一第二装置来接通与关断侦测装置(71.8.9.10;16)。6.如申请专利范围第1项或第2项之装置,特征在于该侦测装置容置有一用于测量样品磁化强度之装置。7.如申请专利范围第4项或第5项之装置,特征在于该侦测装置容置有一用于测量样品磁化强度之装置。8.如申请专利范围第1项或第2项之装置,特征在于该侦测装置包含有一用于测量样品中分析物之结合型剩磁之装置。9.如申请专利范围第4项或第5项之装置,特征在于该侦测装置包含有一用于测量样品中分析物之结合型剩磁之装置。10.如申请专利范围第1项或第2项之装置,特征在于该侦测装置包含有一用于磁松驰侦测之装置。11.如申请专利范围第4项或第5项之装置,特征在于该侦测装置包含有一用于磁松驰侦测之装置。12.如申请专利范围第1项或第2项之装置,特征在于该侦测装置包含有至少一个超导量子干扰装置(71),作为磁场感测器之一部份。13.如申请专利范围第4项或第5项之装置,特征在于该侦测装置包含有至少一个超导量子干扰装置(71),作为磁埸感测器之一部份。14.如申请专利范围第1项或第2项之装置,特征在于该侦测装置包含有至少一个感应线圈(20),作为磁场感测器之一部份。15.如申请专利范围第4项或第5项之装置,特征在于该侦测装置包含有至少一个感应线圈(20),作为磁场感测器之一部份。16.如申请专利范围第5项之装置,特征在于该等第一与第二装置可彼比独立地予以关断。17.如申请专利范围第5项之装置,特征在于该第一装置能以一预定之固定的时间关系相对于第二装置加以关断。18.如申请专利范围第5项之装置,特征在于该第一装置可对磁化装置(11;21)内产生之磁场产生预定之场振幅及场极性。19.如申请专利范围第18项之装置,特征在于该第一装置可对磁化装置(11;21)内产生之磁场产生与时间有关之预定振幅以及与时间有关之预定极性。20.如申请专利范围第1项或第2项之装置,特征在于设置有一用于电子式抑制干扰讯号之装置。21.如申请专利范围第4项或第5项之装置,特征在于设置有一用于电子式抑制干扰讯号之装置。22.如申请专利范围第1项或第2项之装置,特征在于该用于电子式抑制干扰讯号之装置包含有一用于适应滤波之单元。23.如申请专利范围第4项或第5项之装置,特征在于该用于电子式抑制干扰讯号之装置包含有一用于适应滤波之单元。24.如申请专利范围第1项或第2项之装置,特征在于一装置(9)予以设置来向量测量干扰场,且一装置与其相连,以供适切地补偿为侦测装置(71.8.9.10;16;21)测得之讯号以及/或者为磁化装置(11)产生之磁场。25.如申请专利范围第4项或第5项之装置,特征在于一装置(9)予以设置来向量测量干扰场,且一装置与其相连,以供适切地补偿为侦测装置(71.8.9.10;16;21)测得之讯号以及/或者为磁化装置(11)产生之磁场。26.如申请专利范围第1项或第2项之装置,特征在于该装置适于体内测量。27.如申请专利范围第4项或第5项之装置,特征在于该装置适于体内测量。图式简单说明:第一图显示依据本发明的装置之第一实施例之纵向剖视示意图;第二图示意性地显示复数个样品以矩阵形式以及一相关之感测器线安置之空间排布状况;第三图显示依据本发明的装置之第二实施例之剖视示意图;第四图显示依据本发明的装置之第三实施例之剖视示意图;以及第五图显示依据本发明的装置之第四实施例之剖视示意图。 |
