| 摘要 |
<p>L'invention concerne un procédé consistant à utiliser la comparaison en proportions du rayonnement spéculaire et du rayonnement diffusé réfléchis sur un revêtement pour déterminer le point de gélification du revêtement et surveiller les caractéristiques de séchage du revêtement. Ce même système peut être appliqué pour surveiller le processus de séchage des revêtement en laboratoire afin de définir les caractéristiques du processus de séchage, d'améliorer la qualité du revêtement ou l'efficacité de la production. Un système mettant en oeuvre ce procédé comprend une source de rayonnement qui illumine le point du revêtement où la mesure est relevée, puis un premier et un second détecteurs de rayonnement détectent le rayonnement réfléchi par le revêtement à partir de la source de rayonnement. L'un de ces détecteurs de rayonnement est disposé de manière à capter le rayonnement spéculaire. Le second détecteur est disposé de manière à capter uniquement le rayonnement diffusé. Le rapport de ces deux valeurs donne une information relative au point de gélification et aux caractéristiques de séchage du revêtement.</p> |
