| 主权项 |
1.一种键盘测试装置,系包含:一对夹持元件,系分置于两端,该两夹持元件间可供容置待测键盘;一定位装置,系用以夹置固定该置于夹持元件上之待测键盘;一灯号测试装置,设于两夹持元件间之适当位置,具有若干个光感测器,以由光感测器感测该等待测键盘之显示灯是否显示正常;一压按测试装置,系包括有若干系列伸缩压按元件,每一伸缩压按元件具有一动作杆,可受该伸缩压按元件驱动作伸或缩之动作,该动作杆末端则抵触于该待测键盘之按键上,以配合该动作杆之伸或缩之动作来压按测试该待测键盘之按键;一位移机构,系具有一移动轨道,与该待测键盘平行,并得作反覆往、返之动作,并供该压按测试装置连结,以使该压按测试装置得以沿待测键盘逐一平行位移,以使该压按测试装置之每一压按元件之动作杆末端之压按元件,得以逐一对待测键盘之每一按键作压按测试;一键盘讯号连结装置,系用以连结上述待测键盘之讯号线缆,以检出其按键压按信号;一判读控制机构,系接受该灯号测试装置之待测键盘显示灯测试信号及键盘讯号连结装置之按键压按测试信号,以判读该待测键盘之显示灯及按键压按是否动作正常;一警示装置,系受判读控制机构之驱动,以作该待测键盘之显示灯及按键动作判读异常之警示。2.如申请专利范围第1项所述之键盘测试装置,其中,该夹持元件、定位装置、灯号测试装置、压按测试装置、位移机构、键盘讯号连结装置、判读控制机构及警示装置,系受一机壳围覆于内。3.如申请专利范围第2项所述之键盘测试装置,其中,该机壳前端具有一开口。4.如申请专利范围第2项所述之键盘测试装置,其中,该机壳前端底部设有一固定轨道。5.如申请专利范围第1或4项所述之键盘测试装置,其中,该一对夹持元件及灯号测试装置系锁固于该固定轨道中。6.如申请专利范围第2项所述之键盘测试装置,其中,该机壳内设有一L形之固定轨道。7.如申请专利范围第1或6项所述之键盘测试装置,其中,该定位装置连结于该L形之固定轨道上。8.如申请专利范围第1项所述之键盘测试装置,其中,该定位装置具有一下压杆及压盘,以由上而下压置固定该待测键盘。9.如申请专利范围第1或8项所述之键盘测试装置,其中,该定位装置为气压缸构成。10.如申请专利范围第1项所述之键盘测试装置,其中,该灯号测试装置系包括有一感测器,以感测该待测键盘是否置于两夹持元件间。11.如申请专利范围第1或10项所述之键盘测试装置,其中,该感测器系依感测待键盘是否置放,以控制该定位装置对待测键盘作定位固定。12.如申请专利范围第1项所述之键盘测试装置,其中,该压按测试装置之伸缩压按元件之动作杆上套置有一弹性元件。13.如申请专利范围第1项所述之键盘测试装置,其中,该压按测试装置之伸缩压按元件上连结有一固定座。14.如申请专利范围第1项所述之键盘测试装置,其中,该压按测试装置具有一L状之定位座。15.如申请专利范围第14项所述之键盘测试装置,其中,该定位座具有一垂直部,设有一长孔。16.如申请专利范围第13或15项所述之键盘测试装置,其中,该伸缩压按元件之固定座系锁固于该定位座之垂直部之长孔。17.如申请专利范围第14项所述之键盘测试装置,其中,该定位座具有一水平部。18.如申请专利范围第17项所述之键盘测试装置,其中,该定位座之水平部,系与一滑动座锁合。19.如申请专利范围第1或17项所述之键盘测试装置,其中,该滑动座与该位移机构之移动轨道相连结。20.如申请专利范围第1项所述之键盘测试装置,其中,该位移机构系具有一驱动马达,以带动该移动轨道移动。21.如申请专利范围第1项所述之键盘测试装置,其中,该键盘讯号连结装置系包括有若干个连结插孔,以连结不同型态之待测键盘插头。22.如申请专利范围第1项所述之键盘测试装置,其中,该判读控制机构为PLC(可程式控制器)构成。23.如申请专利范围第1项所述之键盘测试装置,其中,该判读控制机构为PC个人电脑。24.如申请专利范围第1项所述之键盘测试装置,其中,该警示装置为蜂鸣器。图式简单说明:第一图系本创作之键盘测试装置之立体结构图;第二图系本创作之键盘测试装置之立体分解结构图;第三图为一前视图,显示本创作之键盘测试装置中,该键盘置于一对夹持元件间,及受定位装置下压定位之状态;第四图为一局部分解图,系显示本创作中之压按测试测试机构之结构;第五图系本创作之键盘测试装置之较佳应用例图;第六图系第五图应用例中待测键盘之实施例图;第七图为一局部侧视图,系显示第五图之应用例中,该压按测试置压按测试键盘按键之状态;第八图为一局部正视图,系显示本创作中之压按测试机构经一测压器测压调整其压按力道之状态; |
