发明名称 样品室、旋光计及旋光角之测定方法
摘要 本发明之旋光角测定用样品室,具备:一具备保持被检试料之筒状中空部、中空部之一对开口部闭塞的光透射面、以及卷绕于基体之周围所构成使中空部内于中空部轴方向产生磁场之线圈。被检试料由连通中空部与外部之孔供给于中空部内。
申请公布号 TW407201 申请公布日期 2000.10.01
申请号 TW087114848 申请日期 1998.09.07
申请人 松下电器产业股份有限公司 发明人 河村达朗;宫崎仁诚;龟井明仁
分类号 G01N33/493 主分类号 G01N33/493
代理机构 代理人 恽轶群 台北巿南京东路三段二四八号七楼;陈文郎 台北巿南京东路三段二四八号七楼
主权项 1.一种旋光角测定用样品室,其特征在于包含有:具有贯通一对端面间以收容被检试料之中空部以及设置于前述端面周围之一对凸缘部的筒状基体;分别将前述中空部之成对开口部闭塞之光透射面;以及卷绕于前述基体之前述凸缘部间而构成之线圈。2.如申请专利范围第1项之旋光角测定用样品室,其中前述线圈之宽度比前述中空部之长度短。3.如申请专利范围第1项之旋光角测定用样品室,并具有连通前述中空部与外部之孔。4.如申请专利范围第3项之旋光角测定用样品室,其中前述孔并包含用以将前述被检试料导入以及排出之导入排出口。5.如申请专利范围第4项之旋光角测定用样品室,其中前述导入排出口系配置于透射而通过前述中空部之光的行进路径之上方。6.如申请专利范围第4项之旋光角测定用样品室,其中前述孔并包含供前述中空部与外部间之空气流通的通气口。7.如申请专利范围第6项之旋光角测定用样品室,其中前述导入排出口系设置于前述中空部之最下部,而前述通气口则系配置于透射而通过前述中空部之光的行进路径之上方。8.如申请专利范围第3项之旋光角测定用样品室,其中前述孔包含供前述被检试料之排出以及空气之流通的排出通气口。9.如申请专利范围第8项之旋光角测定用样品室,其中前述排出通气口系配置于透射而通过前述中空部之光的行进路径之上方。10.如申请专利范围第3项之旋光角测定用样品室,其中前述孔包含:用以导入前述被检试料之导入口以及用以排出前述被检试料之排出口。11.如申请专利范围第10项之旋光角测定用样品室,其中前述导入口系设置于透射而通过前述中空部之光的行进路径之上方,而前述排出口则系设置于前述中空部之最下部。12.如申请专利范围第3项之旋光角测定用样品室,其中前述孔包含:用以导入前述被检试料之导入口、用以排出前述被检试料之排出口、以及供前述中空部与外部间之空气流通的通气口。13.如申请专利范围第11项之旋光角测定用样品室,其中前述排出口系设置于前述中空部之最下部,而前述通气口则系设置于透射而通过前述中空部之光的行进路径之上方。14.如申请专利范围第12项之旋光角测定用样品室,其中前述排出口以及前述通气口系设置于透射而通过前述中空部之光的行进路径之上方。15.如申请专利范围第4项之旋光角测定用样品室,其中前述中空部之上面乃沿着投射光之行进方向倾斜,而前述孔则系设置于前述上面之最上部。16.如申请专利范围第4项之旋光角测定用样品室,其中前述中空部之底面乃沿着透射而通过前述中空部之光的行进路径而倾斜,而前述孔则系设置于前述底面之最下部。17.一种旋光角测定方法,其特征在于包含:将一具备有用以保持被检试料之筒状中空部、将前述中空部之成对开口部闭塞之光透射面、以及卷绕于前述筒状基体之外侧面而构成之线圈的旋光角测定用样品室配置成前述中空部之轴呈倾斜之步骤;将欲测定之液状试料导入前述中空部之步骤;以及沿着前述中空部之轴将光投射于前述光透射面之步骤。18.如申请专利范围第17项之旋光角测定方法,其中前述样品室系于前述中空部之下端部以及上端部各别设有连通于外部之孔,而由前述下端部之孔将试料导入前述中空部者。19.如申请专利范围第17项之旋光角测定方法,其中前述样品室系配置成以前述下端部之孔位于前述光之上游侧,而前述上端部之孔则位于下游侧者。图式简单说明:第一图A为本发明之一实施例之样品室侧面图,第一图B为同样品室之纵截面图。第二图为显示同实施例旋光计之构成的概略图。第三图为显示供给于同旋光计之线圈之电流与锁定放大器之输出的关系的特性图。第四图为显示蔗糖水溶液之浓度与得到消光点时对线圈供给电流J的关系的特性图。第五图A为本发明之其他实施例之样品室侧面图,第五图B为同样品室之纵截面图。第六图A为本发明之再其他实施例之样品室侧面图,第六图B为同样品室之纵截面图。第七图A为本发明之再其他实施例之样品室侧面图,第七图B为同样品室之纵截面图。第八图A为本发明之再其他实施例之样品室侧面图,第八图B为同样品室之纵截面图。第九图A为本发明之再其他实施例之样品室侧面图,第九图B为同样品室之纵截面图。第十图A为本发明之再其他实施例之样品室侧面图,第十图B为同样品室之纵截面图。第十一图A为本发明之再其他实施例之样品室侧面图,第十一图B为同样品室之纵截面图。第十二图A为本发明之再其他实施例之样品室侧面图,第十二图B为同样品室之纵截面图。第十三图为本发明之再其他实施例之样品室的纵截面图。第十四图为显示同实施例旋光计之构成的概略图。第十五图为显示向来之旋光计之构成的概略图。第十六图为显示同旋光计之检偏镜之旋转角度与透射检偏镜之光强度的特性图。第十七图为显示向来之其他旋光计之构成的概略图。第十八图为显示供给于同旋光计之线圈之电流与锁定放大器之输出的关系的特性图。
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