发明名称 卤素离子检测装置及其检测材质的制造方法
摘要 本发明系有关于一种卤素离子之检测装置以及制造其检测材质的方法。此种卤素离子检测装置主要系由其表面已均匀形成有重铬酸银(Ag2Cr2O7)或铬酸银(Ag2CrO4)之多孔性材质所构成。
申请公布号 TW408221 申请公布日期 2000.10.11
申请号 TW085104767 申请日期 1996.04.22
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 詹益松;蔡嫔嫔
分类号 G01N33/00 主分类号 G01N33/00
代理机构 代理人
主权项 1.一种将铬酸银均匀形成于多孔性材质上的方法,包括:(a)将铬酸银溶解于氨水中,以形成一混合溶液;(b)将多孔性材质浸入该混合溶液中,其中该多孔性材质系选自滤纸、活性矾土、矽胶、矽砂或其衍生物所组成的族群中之其中一种材质;(c)加热该混合溶液,加热温度低于90℃:以及(d)持续加热直到将水与该氨水蒸发完全,则该铬酸银即可均匀地形成在该多孔性材质上。2.如申请专利范围第1项之方法,其中,该氨水的浓度为0.1-6N。3.如申请专利范围第1项之方法,其中,该(c)步骤的加热温度范围为60-90℃。4.一种将重铬酸银均匀形成于多孔性材质上的方法,包括:(a)将铬酸银溶解于稀硝酸中,以形成一重铬酸银混合溶液;(b)将多孔性材质浸入该混合溶液中,其中该多孔性材质系选自滤纸、活性矾土、矽胶、矽砂或其衍生物所组成的族群中之其中一种材质;(c)加热该混合溶液,加热温度低于90℃;以及(d)持续加热直到将水蒸发完全,则该重铬酸银即可均匀地形成在该多孔性材质上。5.如申请专利范围第4项之方法,其中,该稀硝酸的浓度为0.1-6N。6.如申请专利范围第4项之方法,该(c)步骤的加热温度范围为60-90℃。7.一种将铬酸银均匀形成于多孔性材质上的方法,包括:(a)将铬酸银溶解于氨水中;(b)加入一缓冲溶液于该氨水中,以形成一混合溶液;(c)将多孔性材质浸入该混合溶液中,其中该多孔性材质系选自滤纸、活性矾土、矽胶、矽砂或其衍生物所组成的族群中之其中一种材质;(d)加热该混合溶液,加热温度低于90℃;以及(e)持续加热直到将水与该氨水蒸发完全,则该铬酸银与缓冲剂即可均匀地形成在该多孔性材质上。8.如申请专利范围第7项之方法,其中,该氨水的浓度为0.1-6N。9.如申请专利范围第7项之方法,其中,该缓冲溶液可为硼酸盐溶液或磷酸盐溶液,并且该缓冲溶液的酸硷値为pH7-12。10.如申请专利范围第7项之方法,其中,该(d)步骤的加热温度范围为60-90℃。11.一种将重铬酸银均匀形成于多孔性材质上的方法,包括:(a)将铬酸银溶解于稀硝酸中;(b)加入一缓冲溶液于该稀硝酸中,以形成一重铬酸银混合溶液;(c)将多孔性材质浸入该混合溶液中,其中该多孔性材质系选自滤纸、活性矾土、矽胶、矽砂或其衍生物所组成的族群中之其中一种材质;(d)加热该混合溶液,加热温度低于90℃;以及(e)持续加热直到将水蒸发完全,则该重铬酸银与缓冲剂即可均匀形成在该多孔性材质上。12.如申请专利范围第11项之方法,其中,该稀硝酸的浓度为0.1-6N。13.如申请专利范围第11项之方法,其中,该缓冲溶液可为硼酸盐溶液或磷酸盐溶液,并且该缓冲溶液的酸硷値为pH2-7。14.如申请专利范围第11项之方法,其中,该(d)步骤的加热温度范围为60-90℃。15.一种卤素离子检测装置,包括:(a)一划有刻度之透明管状壳件;(b)一装填于该圆柱形材料的刻度范围内之表面已均匀形成有重铬酸银或铬酸银的多孔性材质;以及(c)一装填于该多孔性材质两端的吸水性材料。16.如申请专利范围第15项之卤素离子检测装置,其中,该透明管状壳件乃由玻璃、聚醚、聚苯乙烯或纤维质材料所制成。17.如申请专利范围第15项之卤素离子检测装置,其中,该吸水性材料可为棉花、其他纸制品或其他可吸水的材料。18.一种卤素离子检测装置,包括:(a)一对不透水并已划上刻度的等面积之透明材料片;以及(b)一夹置于该对透明材料片内之表面已均匀形成有重铬酸银或铬酸银的条状多孔性材质。19.如申请专利范围第18项之卤素离子检测装置,其中,该透明材料片可为塑胶、美拉薄膜、聚乙烯、聚丙烯、聚醚或其他不透水的透明材料所制成。20.一种卤素离子检测装置,系自一具刻痕及刻度的派勒克斯圆形玻璃管内的一端依序装填棉花、矽砂、重铬酸银或铬酸银与矽砂之混合物、吸水性高分子以及棉花所构成。图式简单说明:第一图所示为依据本发明所制成之一种卤素离子检测装置;第二图A至第二图C所示为依据本发明所制成之另一种卤素离子检测装置及其检测程序;以及第三图A至第三图B所示为依据本发明所制成之另一种卤素离子检测装置及其检测程序。
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