发明名称 BGA基板焊上IC及封胶后导电状态测试机
摘要 本创作系关于一种BGA基板焊上IC及封胶后导电状态测试机,其为一包含控制机构、输送机构、取料机构、固定机构、检测机构、移料机构及归料机构七个部分所构成之机械;其检测机构包含定位装置、测试装置及标示装置;其测试装置包含一装设导电矽胶之下压元件及一装设探针之上抵元件所构成,其供检测BGA基板上下面之打线结合端与植球端之导电状态,若检测出其具缺陷即用标示装置予以标记。
申请公布号 TW414364 申请公布日期 2000.12.01
申请号 TW088201574 申请日期 1999.01.28
申请人 东捷半导体科技股份有限公司;林宜弘 屏东县屏东巿德丰街九十四巷八号 发明人 李炳寰;林宜弘
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人 颜福松 高雄巿前金区大同二路一三五之一号五楼之二
主权项 1.一种BGA基板焊上IC及封胶后导电状态测试机,其包含:一机台;一控制机构,其架设于机台上方,包含各输出装置及输入装置,供操作人员可监看机械作动情形及更改设定;一输送机构,其为一装置于机台侧边之架体,架体上设置入料口、出料口、传送带及储料区,供传送待测物至入料口及传送出料口之已检测完毕的检测物至储料区;一取料机构,其装置于输送机构的入料口处前,其具一取料装置,供于入料口抽取出基板卡以利检测机构进行检测;一归料机构,其装置于输送机构的出料口处前,其具一归料装置,供将检测完毕之基板卡送至出料口;一固定机构,其包含设置于入料口前之平移轨道,轨道上架设固定平台,于轨道旁设置检测机构,固定平台上具夹持爪,供取料机构将基板卡置于上面并夹持住,并利用于平移轨道上移动将其基板卡送至检测机构处检测;一移料机构,其装置于机台中央,包含一位于归料装置下之归料平台,一介于固定平台及归料平台之中继平台,平台旁设置一可横跨两平台并同时抓取两基板卡之抓料装置,供将检测完毕之基板卡逐次移至中继平台及归料平台,以利归料机构于此取料;一检测机构,其包含排列架设于平移轨道之定位装置、测试装置及标示装置,其中:定位装置包含一打光器及一数位摄影机所构成,其以基板卡上之定位孔为侦测之依据,判断基板卡是否翻置于正面,且配合固定平台于平移轨道上移动来做左右位移定位动作,以供测试装置之座标依据;测试装置包含一底面具导电矽胶的下压元件及一顶面具数探针的上抵元件所组成,其利用导电矽胶压于基板卡上面,与其打线接合端接触;其上抵元件之各探针上升抵于基板卡底面之各植球端,透过于导电矽胶及探针间通以电流,供检验基板卡正面之打线接合端与反面各植球端间的通电状态是否正常;标示装置供于经测试装置检验出具问题的基板卡上做记号。2.如申请专利范围第1项所述之BGA基板焊上IC及封胶后导电状态测试机,其中该取料机构、归料机构及移料机构中抓取基板卡之装置系为一吸嘴装置,供于取料及归料时不会伤害基板镀层。3.如申请专利范围第1项所述之BGA基板焊上IC及封胶后导电状态测试机,其中标示装置具一可上下运动之笔具,供于经测试装置检验出具问题的基板卡上做记号。
地址 台南巿安平工业区新和路五号