| 主权项 |
1.一种使用第二时序信号决定第一时序信号相位之方法,包括下列之步骤:依据第二时序信号而取样第一时序信号以产生数位位元流;以及由该数位位元流形成指示相位的数位字元。2.如申请专利范围第1项之方法,其中形成数位字元之步骤包括将数位位元流滤波。3.一种使用第二时序信号决定第一时序信号相位之装置,包括:依据该第二时序信号取样该第一时序信号以产生数位位元流之装置;以及由该数位位元流形成指示相位之数位字元的装置。4.如申请专利范围第3项之装置,其中形成数位字元之装置包括一数位滤波器。5.如申请专利范围第4项之装置,其中该数位滤波器使用一加权函数,其中不同的权値应用于不同的数位位元。6.一种使用第二时序信号决定第一时序信号相位之方法,包括下列之步骤:依据第二时序信号而取样该第一时序信号以产生数位符号流;以及由该数位符号流形成指示相位的数位値。7.如申请专利范围第6项之方法,其中形成该数位値之步骤包括将数位位元流滤波。8.一种使用第二时序信号决定第一时序信号相位之装置,包括依据第二时序信号而取样第一时序信号以产生数位符号流之装置;以及由该数位位元流形成指示相位之数位値的装置。9.如申请专利范围第8项之装置,其中形成数位符号流之装置包括一数位滤波器。10.如申请专利范围第9项之装置,其中该数位滤波器使用一加权函数,函数中不同的权値应用于不同的数位位元。11.一种用于使用另一时序信号产生指示一时序信号相位资料流之方法,包括依据另一时序信号取样一时序信号,以形成第一数位位元或符号流;其中各数位位元或符号代表一时序信号之一些预定极性的转换;该数位位元或符号在其他时序信号之特别周期内发生,如此该数位位元或符号可以更进一步被处理以决定相关相位。12.如申请专利范围第11项之方法,其中一频率差异相位计算被使用,且尚包括下列之步骤:将数位位元或数位符号流滤波以获得时序信号频率之平均比率;将该数位位元或数位符号流滤波以获得时序信号频率比率之一串短项预估;对各预估而言,计算介于各预估与频率之平均比率间的差异,并将该差异转换为相位增量;以及将该相位增量累加以产生运行相位预估。13.如申请专利范围第11项之方法,其中预加差异相位计算被使用,且尚包括下列之步骤:藉由从各该数位位元或符号减去时序信号频率之比率,以产生第一数位値流;藉由累加第二数位直流,产生之第二数位値流;将第二数位値流加以滤波。14.如申请专利范围第11项之方法,包括下列步骤:产生第二数位位元或符号流,该数位位元或符号流于其他时序信号依据其中之一时序信号取样时形成;由第一数位位元或符号流减去第二数位位元或符号流以产生第三数位位元或符号流;以及累加第三数位位元或符号流以形成第四数位位元或符号流,其中各位元或符号具有1,0或是-1其中之一値。15.如申请专利范围第14项之方法,其中一整数差异相位计算方法被使用,尚包括将第四数位位元或符号流加以滤波之步骤。16.如申请专利范围第14项之方法,其中一时序量测相位计算被使用,尚包括下列步骤:将第一数位位元或符号流滤波以产生已滤波的値;产生第五数位位元或符号流,该数位位元或符号流于一时序信号为依据其他时序信号作西格玛-三角调变时形成;形成一由该第四资料流取得的値与一由第五资料流取得的値小数部分之间的差异;以及结合该差异与已滤波的値。17.如申请专利范围第16项之方法,其中该滤波为使用一双曲线加权函数执行。18.一种用于使用另一时序信号产生指示一时序信号相位资料流之电路,该电路包括一应用第一时序信号的第一输入端、一应用第二时序信号的第二输入端,该第二输入端并产生数位位元或符号流作为输出;其中各数位位元或符号代表该时序信号之一些预定极性的转换;该数位位元或符号在其他时序信号之特别周期内发生,如此该数位位元或符号流可以更进一步被处理以决定相关相位。19.如申请专利范围第18项之电路,尚包括:一权値产生器;一第一累加器;以及一第二累加器;其中第一累加器接收一数位位元或符号流当输入,并产生输出数位位元或符号流;该权値产生器产生一串权値;而该第二累加器接收该串权値与输出数位位元或符号流,并产生一相位预估。20.如申请专利范围第19项之电路,其中第二累加器包括一硬体乘法器。21.如申请专利范围第19项之电路,其中第一累加器包括参考图样产生器且该输出数位符号流由符号1,0与-1组成;且其中该第二累加器包括一加法器/减法器。22.如申请专利范围第18项之电路,尚包括:一权値产生器;一第一累加器;一第二累加器;以及一加法方块;其中该权値产生器产生一串加权;第一累加器接收数位位元或符号流与该串权値为输入并产生第一输出符号流;第二累加器接收该输入数位位元或符号流并产生第二输出符号流;而加法方块将第一累加器之输出与第二累加器之输出相加以产生一相位预估。图式简单说明:第一图为一方块图,解释西格玛-三角调变器,以及如本发明之一具体实施例之应用于频率取样的取样电路之取样资料模式;第二图为有助于解释第一图中电路模式操作的表格,其中该输入频率的一个例子是该参考频率的0.6875倍;第三图为一定时图,解释第一图中电路模式应用于频率取样时之操作原理;第四图为藉由第一图电路模式说明之该频率取样电路的一个例子之设计图;第五图为一第一定时图,解释第四图之频率取样电路的操作;第六图为一第二定时图,解释第四图之频率取样电路的操作;第七图二分别加权函数之图形,该加权函数可以被使用于执行如第四图之电路产生的数位位元流之数位式滤波;第八图为一解释使用常数加权函数而由数位频率监别器获得的准确度的图形;第九图为解释使用三角加权函数而由数位式监别器获得的准确度的图形;第十图为一可以与如第四图之频率取样电路结合而使用之数位式滤波器例子的方块图;第十一图A为解释一种数位式相位监别方法之制表;第十一图B为显现第十一图A方法之结果的绘图;第十一图C为结合第十一图A与第十一图B而使用的加权函数之绘图;第十二图A为解释另一种数位式相位监别方法之制表;第十二图B为显现第十二图A方法之结果的绘图;第十二图C为结合第十二图A与第十二图B而使用的加权函数之绘图;第十三图为一如第十二图之技术的数位式相位监别硬体之方块图。第十四图A解释数位式相位监别之另一种方法的制表;第十四图B为显现第十四图A方法之结果的绘图;第十四图C为结合第十四图A与第十四图B而使用的加权函数之绘图;第十五图为一如第十四图之技术的数位式相位监别硬体之方块图;第十六图A解释数位式相位监别之另一种方法的制表;第十六图B为显现第十六图A方法之结果的绘图;第十六图C为结合图第十六图A与第十六图B而使用的加权函数之绘图;第十七图为一如第十六图之技术的数位式相位监别硬体之方块图。 |
