| 主权项 |
1.一种测试装置,适于处理经由一对资料线传输之一输入信号;该测试装置包括:两个测试通道,分别对应至该等资料线中之一者,每一该测试通道包括:一第一比较器,以反相端接收一上限参考値,以非反相端连接该相对应之资料线;一第二比较器,以反相端连接该相对应之资料线,以非反相端接收一下限参考値;以及一通过/故障逻辑电路,连接该第一比较器与该第二比较器;当该输入信号于转换周期时,该第一比较器与该第二比较器会产生一逻辑资料,由该通过/故障逻辑电路根据一测试型样资料做一比对后,产生一测试结果。2.如申请专利范围第1项所述之该测试装置,其中,该输入信号是一差动式信号。3.如申请专利范围第2项所述之该测试装置,其中,该差动式信号于该转换周期内具有一交越点。4.如申请专利范围第3项所述之该测试装置,其中,若该交越点位于该上限参考値和该下限参考値之间,则该逻辑资料与该测试型样资料具有对应关系。5.如申请专利范围第4项所述之该测试装置,其中,该测试结果是一通过信号。6.如申请专利范围第3项所述之该测试装置,其中,若该交越点超过该上限参考値和该下限参考値间之范围则该逻辑资料与该测试型样资料无对应关系。7.如申请专利范围第6项所述之该测试装置,其中,该测试结果是一故障信号。8.如申请专利范围第2项所述之该测试装置,其中,该差动式信号是一USE滙流排信号。9.如申请专利范围第2项所述之该测试装置,其中,该差动式信号是一IEEE 1394滙流排信号。10.如申请专利范围第2项所述之该测试装置,其中,该差动式信号是一乙太网路信号。11.如申请专利范围第1项所述之该测试装置,尚包括一选通信号,控制该通过/故障逻辑电路对该逻辑资料与该测试型样资料做比对。12.一种测试方法,适于处理一输入信号;该测试方法包括:提供一电压范围,该电压范围系由一上限参考値和一下限参考値所界定;提供一测试型样资料;根据该电压范围侦测该输入信号,产生一逻辑资料;当该输入信号于转换周期时,以该逻辑资料与该测试型样资料做一比对后,产生一测试结果。13.如申请专利范围第12项所述之该测试方法,其中,该输入信号是一差动式信号。14.如申请专利范围第13项所述之该测试方法,其中,该差动式信号于该转换周期内具有一交越点。15.如申请专利范围第14项所述之该测试方法,其中,若该交越点位于该电压范围内,则该逻辑资料与该测试型样资料具有对应关系。16.如申请专利范围第15项所述之该测试方法,其中,该测试结果是一通过信号。17.如申请专利范围第14项所述之该测试方法,其中,若该交越点位于该电压范围外,则该逻辑资料与该测试型样资料无对应关系。18.如申请专利范围第17项所述之该测试方法,其中,该测试结果是一故障信号。19.如申请专利范围第13项所述之该测试方法,其中,该差动式信号是一USB滙流排信号。20.如申请专利范围第13项所述之该测试方法,其中,该差动式信号是一IEEE 1394滙流排信号。21.如申请专利范围第13项所述之该测试方法,其中,该差动式信号是一乙太网路信号。22.如申请专利范围第12项所述之该测试方法,尚包括提供一选通信号,控制该逻辑资料与该测试型样资料间之比对。图式简单说明:第一图系显示USB滙流排内一对资料线DP和DN之信号电压波形图;第二图系显示用以测试交越电压之习知装置;第三图系显示一习知测试系统的方块图;第四图系显示为根据本发明一较佳实施例之测试装置的方块图;以及第五图系显示资料端DP和DN、选通信号STROBE波形图之一例。 |
