可增加测试密度、达到低阻抗测试及节省模具制作时间之检测探针的结构

摘要

一种可增加测试密度、达到低阻抗测试及节省模具制作时间之检测探针的结构，其主要利用一导电材质采一体制成之一端为测试端另端为头部(结合端)之探针本体，藉由具半圆球形、多边形或弧度形状结合短柱形绝缘体所构成之头部。可提供与测试机之测试点作完全接触结合而降低接触阻抗，以及达到增加测试密度之效用，同时亦可进一步使模具制造时间缩短，而符合经济效益者。

主权项

1.一种可增加测试密度达到低阻抗测试及节省模具制作时间之检测探针的结构,该探针本体主要系一由同一直径之圆杆经一体成形之一端为测试点、另端为头部并具有导电作用者,其特征在于:该探针本体之头部系呈半圆球形,且后方复设有一直径略大且具绝缘效果之短圆柱形体者。2.如申请专利范围第1项所述可增加测试密度达到低阻抗测试及节省模具制作时间之检测探针的结构,其中探针本体之头部系以半圆球形、圆形、弧形等为最佳。3.如申请专利范围第1项所述可增加测试密度达到低阻抗测试及节省模具制作时间之检测探针的结构,其中在头部后方之绝缘短圆柱形体亦可以短方柱且必须适合于测试机之探针宽度等型式为之。图式简单说明:第一图系习用检测探针之外观结构图。第二图系另一习用检测探针之外观结构图。第三图系习用检测探针之实施状态示意图。第四图系本创作探针结构之外观立体图。第五图系本创作之平面结构图。第六图系本创作之实施状态示意图。