| 主权项 |
1.一种「晶片被动元件四线量测装置」,系在底座上表面设置一固定轨,于此固定轨之内轨中可配合一侧盖定位相对之固定座及活动座;上述活动座与固定轨之间介装一弹簧,一设于固定轨正面之控制柄则能与该活动座接合连动,并迫压或释放上述弹簧;两组相对之绝缘轨件则分别组合于上述固定座及活动座,而可配合端盖于其内部组接两平行导电杆及其杆身弹簧;一用以连接检测仪表及电源之接头则使其导线连接导电杆;上述导电杆端部分别结合检测头,并使该等检测头由绝缘轨件之端部外露,供于其间弹力夹按量测预先置入之待测元件端部。2.如申请专利范围第1项所述「晶片被动元件四线量测装置」,其中,该控制柄于固定轨正面形成一活动支点,并在一长形孔置入一轴承,一螺栓穿过该轴承及固定轨正面预设穿槽以接合连动上述活动座。3.如申请专利范围第1项所述「晶片被动元件四线量测装置」,其中,该弹簧介装于活动座与固定轨侧盖相对凹孔之间。4.如申请专利范围第1项所述「晶片被动元件四线量测装置」,其中,该固定座与活动座以相对上下凹面形成所需之位移滑动面。5.如申请专利范围第1项所述「晶片被动元件四线量测装置」,其中,各组绝缘轨件均设有相对槽,供置入两平行导电杆及其杆身弹簧,并且两导电杆之间隔有绝缘片,上述导电杆之杆身弹簧压靠于检测头及端盖之间,而导电杆则以预设挡环压靠于端盖另侧。6.如申请专利范围第1项所述「晶片被动元件四线量测装置」,其中,该待测元件系预先放置在一治具上,此治具表面预设中央凸起条,供于该凸起条设置多数成排配合待测元件规格之凹口。图式简单说明:第1图系本创作较佳实施例立体图;第2图系第1图量测装置之元件分解图;第3图系第2图之组合横断面剖视图;第4图显示第3图已置入治具及待测元件;第5图系第4图之下一接续动作;第6图系本创作另一实施例断面剖视图;以及第7图系第6图之局部构件检测动作图。 |
