| 摘要 |
本发明提供液晶显示装置及其检查方法，在采用晶片朝上式COG(Chip On Glass)封装法的液晶显示装置中，容易查出线缺陷等显示不良原因。电极基板1表面的周缘部上配置有隔着源极配线行4与闸极绝缘膜6而交叉之交叉配线5。驱动器LSI3安装后的亮灯检查中发生线缺陷等显示不良时，从基板背面侧对显示不良产生部位的源极配线4与交叉配线5的交叉部12照射YAG雷射，并且使源极配线4与交叉配线5连接。之后，将交叉配线电极5a(或者5b)接触示波器所连接的探针，而测定来自驱动器3的输出波形。藉此，容易查出显示不良的原因，因而可获得产能高、价格低廉的液晶显示装置。而且，因交叉配线5可与闸极配线同时形成，与以往的技术相比无须增加其制程步骤。 |
