发明名称 非挥发性双电晶体 - 半导体记忆体单元及相关制造方法
摘要 本发明揭示一种非挥发性双电晶体-半导体记忆体单元及相关制造方法,其中一选择电晶体(AT)及一记忆体电晶体(ST)的源极及汲极区域(2)系形成于一基板(1)内。该记忆体电晶体(ST)具有一第一绝缘层(3)、一电荷储存层(4)、一第二绝缘层(5)及一记忆体电晶体控制层(6),而该选择电晶体(AT)则具有一第一绝缘层(3')及一选择电晶体控制层(4*)。藉由在该电荷储存层(4)及该选择电晶体控制层(4*)中使用不同的材料,并藉由调整基板掺杂,可显着改善该记忆体单元的电荷保持特性,且使其电气特性保持不变。
申请公布号 TW200303087 申请公布日期 2003.08.16
申请号 TW091137012 申请日期 2002.12.23
申请人 亿恒科技公司 发明人 富兰兹 薛勒;乔治 坦普尔
分类号 H01L27/115 主分类号 H01L27/115
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 德国