发明名称 反光装置之光学性能检测装置
摘要 一种反光装置之光学性能检测装置,主要是由一投光器发射出光源,然后经过分光镜形成强度相当的第一光束与第二光束,第一光束可入射到一反光装置形成第一反射光,而一第一光感测器可接收量测第一反射光的强度,一第二光感测器可接收量测第二光束的强度;如此,即能藉由一检知器收受第一、二光感测器的光感测值,而判别出所检测的反光装置之光学性能,进而建置出反光装置之品质检测机制。陆、(一)、本案指定代表图为:第__2__图(二)、本代表图之元件代表符号简单说明:4 投光器 5 散光镜6 分光镜 7 透镜8 挡光阑 9 第一光感测器10 第二光感测器 20 检知器30 反光装置
申请公布号 TW549436 申请公布日期 2003.08.21
申请号 TW091221672 申请日期 2002.12.31
申请人 财团法人精密机械研究发展中心 发明人 锺添淦;谢尚斌;吉镇
分类号 G01M11/00 主分类号 G01M11/00
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路三段二四八号七楼;陈文郎 台北市松山区南京东路三段二四八号七楼
主权项 1.一种反光装置之光学性能检测装置,用以检测反光装置的光学性能,该检测装置包含有:一可发射出光源的投光器;一分光镜,可将投光器射出的光源分成二个强度相当的第一光束与第二光束,且第一光束会入射到该反光装置形成一第一反射光;一第一光感测器,用于接收量测第一反射光的强度;一第二光感测器,用于接收量测第二光束的强度;及一检知器,收受第一、二光感测器的光感测値,以判别检测出反光装置之光学性能,进而建置出反光装置之光学品质检测机制。2.依据申请专利范围第1项所述之反光装置之光学性能检测装置,更包含有一可将投光器投射出的光源均匀仳后再入射到分光镜的散光镜。3.依据申请专利范围第1项所述之反光装置之光学性能检测装置,更包含有一可将第一光束放大处理的透镜,及一可将第一光束成像为几何外型而入射到反光装置之挡光阑。4.依据申请专利范围第1项所述之反光装置之光学性能检测装置,更包含有一光学系统检测机制,用以检测投光器初始光强度与使用后衰退光强度、第一光束入射到反射装置的位置,及确认第一、二光感测器的接收性能。5.依据申请专利范围第1项所述之反光装置之光学性能检测装置,更包含有一送料装置,该送料装置具有一机台,及一设置于机台上的送料平台,如此,将多数个反光装置放置于送料平台上,当发光器入射检验其中一反光装置后,可藉送料平台输送已检验过的反光装置移位,以让其后的反光装置移位到待检测位置继续检测。6.依据申请专利范围第1项所述之反光装置之光学性能检测装置,其中,该投光器是采用雷射二极体。图式简单说明:第一图是传统反光装置之光学性能检测方式之示意图;第二图是一反光装置之光学性能品质检测流程图,说明本创作之一较佳实施例;第三图是该较佳实施例之反光装置之光学性能品质检测的平面示意图;第四图是该较佳实施例之光学检测设备搭配一送料装置形成自动检测机制的一示意图;第五图是该较佳实施例之投光器衰退检测流程图;第六图是该较佳实施例之光学系统校验流程图;及第七图是该较佳实施例之反光装置之光学品质与光学系统检测的整体流程图。
地址 台中市西屯区工业区三十七路二十七号