线圈阻抗检测方法、使用该检测方法之物体检测方法及装置

摘要

本发明提供线圈阻抗检测方法，使用该检测方法之物体检测方法及装置，系由三角波产生电路21产生扫描电压，由电压控制振荡器(VCO)22对应于该扫描电压进行频率扫描，由该扫描电压予以驱动驱动线圈4，且依流过驱动线圈4的电流，抽出干扰成份于整流电路27予以整流。而于峰值保持电路28保持1单位扫描时间内之干扰电压峰值，且将保持之峰值由比较电路29与预定值比较后，再将显示物体有无的信号由继电器电路30输出。本案代表图：第12图1 检测导管 2 振动板3 永久磁铁 4 驱动线圈(电磁铁)21 三角波产生电路 22 电压控制振荡器(VCO)23 驱动电路 24 电流检测电路25 放大电路 26带通滤波器(BPF)27 整流电路 28 峰值保持电路29 比较电路 30 继电器电路

主权项

1.一种线圈阻抗检测方法,系藉由设在检测导管(1)内振动板(2)之磁铁(3)中若干的空隙,以检测相对之驱动线圈(4)在振动频率之阻抗,其中,系于上述驱动线圈(4)施加与上述振动板(2)之共振频率为同一频率之交变电流,再以流过电流之大小及相位连续监视该驱动线圈之阻抗变化后,而检测该变化之大小者。2.一种线圈阻抗检测方法,系藉由设在检测导管(1)内振动板(2)之磁铁(3)中若干的空隙,以检测相对之驱动线圈(4)在振动频率之阻抗,其中,系一边扫描包含上述振动板(2)之共振频率近傍之频率的交变电流,一边施加于上述驱动线圈(4),以检测扫描中驱动线圈(4)的阻抗变化者。3.一种线圈阻抗检测方法,系藉由设在检测导管(1)内振动板(2)之磁铁(3)中若干的空隙,以检测相对之驱动线圈(4)在振动频率之阻抗,其中,系一边扫描包含上述振动板(2)之共振频率近傍之频率的交变电流,一边施加于上述驱动线圈(4),对应于经由扫描产生之干扰成份大小而输出检测信号者。4.一种物体检测方法,系藉由设在检测导管(1)内振动板 (2)之磁铁(3)中若干的空隙,以检测相对之驱动线圈(4)在振动频率之阻抗,而检测出有无物体,其中,系将频率与上述振动板(2)之共振频率一致之交变电流施加于上述驱动线圈(4),以流过电流大小及相位连续监视该驱动线圈(4)之阻抗变化后,检测变化之大小,将上述经检测之阻抗变化与基准値予以比较后,而检测出有无物体者。5.一种物体检测方法,系藉由设在检测导管(1)内振动板(2)之磁铁(3)中若干的空隙,以检测相对之驱动线圈(4)在振动频率之阻抗,而检测物体有无,其中,系一边扫描包含上述振动板(2)的共振频率近傍之频率的交变电流一边施加于上述驱动线圈(4),以检测扫描中驱动线圈(4)的阻抗变化,将上述经检测之扫描中阻抗之最大变化与基准値予以比较后,而检测出有无物体者。6.一种物体检测方法,系藉由设在检测导管(1)内振动板 (2)之磁铁(3)中若干的空隙,以检测相对之驱动线圈(4)在振动频率之阻抗,而检测出有无物体,其中,系一边扫描包含上述振动板(2)的共振频率近傍之频率的交变电流,一边施加于上述驱动线圈(4),将经由扫描产生之干扰成份大小与基准値予以比较后,而检测出有无物体者。7.一种物体检测装置,系藉由设在检测导管(1)内振动板(2)之磁铁(3)中若干的空隙,以检测相对之驱动线圈(4)在振动频率之阻抗,以检测出有无物体,其具备:将频率与上述振动板之共振频率一致之交变电流施加于上述驱动线圈的交流电流施加电路(21至23);藉由上述交流电流施加电路施加交流电流时,以流过电流大小及相位连续监视驱动线圈的阻抗变化后,而检测出变化之大小之阻抗变化检测电路(24至27);以及将藉由上述阻抗变化检测电路检测之阻抗变化与基准値予以比较后,而检测出有无物体之比较电路(29)者。8.一种物体检测装置,系藉由设在检测导管(1)内振动板(2)之磁铁(3)中若干的空隙,以检测相对之驱动线圈(4)在振动频率之阻抗,而检测出有无物体,其具备:一边扫描包含上述振动板(2)之共振频率近傍之频率的交变电流,一边施加于上述驱动线圈(4)的交流电流施加电路(21至23);藉由上述交流电流施加电路,检测扫描交流电流中之驱动线圈之阻抗变化的阻抗变化检测电路(24至27);以及将藉由上述阻抗变化检测电路检测之阻抗变化与基准値予以比较后,而检测出有无物体之比较电路(29)者。9.一种物体检测装置,系藉由设在检测导管(1)内振动板 (2)之磁铁(3)中若干的空隙,以检测相对之驱动线圈(4)在振动频率之阻抗,而检测出有无物体,其具备:一边扫描包含上述振动板之共振频率近傍之频率的交变电流,一边施加于上述驱动圈的交流电流施加电路(21至23);藉由上述交流电流施加电路之交变电流之扫描而将产生干扰成份之大小抽出之干扰成份抽出电路(24至27);以及将藉由上述干扰成份抽出电路抽出之干扰成份与基准値予以比较后,而检测出有无物体之比较电路(29)者10.如申请专利范围第9项之物体检测装置,其中,上述干扰成份抽出电路,系检测由扫描频率及振动体之机械振动而产生干扰之相位差者。11.如申请专利范围第9项之物体检测装置,其中,上述干扰成份抽出电路,系检测由扫描频率及振动体之机械振动而产生干扰之相位峰値者。12.如申请专利范围第9项之物体检测装置,其中,上述干扰成份抽出电路,系检测流于上述驱动线圈之电流,以检测出干扰之相位差或干扰之相位峰値。图式简单说明:第1图为用以说明本发明原理的示意图。第2A图无检测时之自由振动状态图。第2B图无检测时之自由振动状态图。第3A图检测粉体时之状态图。第3B图检测粉体时之状态图。第4A图检测水时之状态图。第4B图检测水时之状态图。第5A图将检测导管前端以钳具予以固定时之状态图。第5B图将检测导管前端以钳具予以固定时之状态图。第6A图将检测导管以手握紧时之状态图。第6B图将检测导管以手握紧时之状态图。第7图在第1图所示之驱动线圈脉冲串波后停止供应时之波形测定方法示意图。第8图在供给驱动线圈脉冲串波后,停止供应时之波形图。第9图第8图波形之放大图。第10图表示在振动板施加300至400Hz扫描信号时之振幅与频率之关系图。第11图表示高速扫描振动板时振幅与频率之关系图。第12图基于上述原理之第1实施形态之方块图。第13图本发明之第2实施形态之方块图。第14图本发明之第3实施形态之方块图。第15图本发明之第4实施形态之方块图。第16图本发明之第5实施形态之方块图。第17图本发明之第6实施形态之方块图。第18A图习知振动式位准感测器的概略方块图(1)。第18B图习知振动式位准感测器的概略方块图(2)。第18C图习知振动式位准感测器的概略方块图(3)。