发明名称 PCI系统之检测方法
摘要 本发明系有关于一种PCI系统之检测方法,尤指一种可快速确认系统问题点之PCI系统检测方法,该PCI系统至少包含有一处理器、一基本输出入系统、一包含有PCI控制器之晶片组、一PCI汇流排及至少一PCI装置;其检测方法主要系包含有下列步骤:提供一中断服务测试程式;利用中断服务测试对欲测试之PCI装置之中断暂存器写入致能,令该PCI装置发出一中断要求讯号;并检测是否于一预定期间内收到该PCI装置之中断要求讯号,藉以判断中断功能是否正确;另可包含有PCI暂存器之读写测试、PCI控制讯号测试及PCI资料汇流排测试,可加速品管及测试之流程者。
申请公布号 TW200405154 申请公布日期 2004.04.01
申请号 TW092133956 申请日期 2003.12.03
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 石健毅
分类号 G06F11/26 主分类号 G06F11/26
代理机构 代理人 张秀夏
主权项
地址 台北县新店市中正路五三三号八楼