发明名称 | PCI系统之检测方法 | ||
摘要 | 本发明系有关于一种PCI系统之检测方法,尤指一种可快速确认系统问题点之PCI系统检测方法,该PCI系统至少包含有一处理器、一基本输出入系统、一包含有PCI控制器之晶片组、一PCI汇流排及至少一PCI装置;其检测方法主要系包含有下列步骤:提供一中断服务测试程式;利用中断服务测试对欲测试之PCI装置之中断暂存器写入致能,令该PCI装置发出一中断要求讯号;并检测是否于一预定期间内收到该PCI装置之中断要求讯号,藉以判断中断功能是否正确;另可包含有PCI暂存器之读写测试、PCI控制讯号测试及PCI资料汇流排测试,可加速品管及测试之流程者。 | ||
申请公布号 | TW200405154 | 申请公布日期 | 2004.04.01 |
申请号 | TW092133956 | 申请日期 | 2003.12.03 |
申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 石健毅 |
分类号 | G06F11/26 | 主分类号 | G06F11/26 |
代理机构 | 代理人 | 张秀夏 | |
主权项 | |||
地址 | 台北县新店市中正路五三三号八楼 |