发明名称 薄膜及具使用薄膜之清洗膜对标度线间隙之标度线-膜装置
摘要 本发明提出一种有气孔介质,其本体基质包括热膨胀系数低之材料,其亦可以在0.2slpm/cm^2之下,保留99.99%或以上直径约0.003微米之粒子,同时显示渗透率为3.5×10^-12m^2而且孔隙率约62%。该孔状介质–以一种薄膜为佳–亦可以制成一种组合体,此实例中其系为一框架,该框架可以在8.3sccm/cm^2之下,保留99.9999999%直径大于0.003μm之粒子,且其渗透率为3.0×10^-13m^2而且孔隙率约53%。藉由改变该原料可以配制这两种孔状介质,获得某一孔隙率范围,而且显示其渗透率介于1.0E^-13与1.0E^-11m^2之间。本发明进一步提出此种孔状介质在支撑保护膜(pellicle)与标度线框架上之应用,诸如彼此平行定位之框架。该框架可以整体均为孔状介质,或是制造孔状介质并将其密封于一实心支撑框架中。可以制造具有各种不同孔隙率与所需性质之薄膜。
申请公布号 TW200416480 申请公布日期 2004.09.01
申请号 TW092127323 申请日期 2003.10.02
申请人 密科理股份有限公司 发明人 克里斯多夫J. 维若曼;南森 艾伯特
分类号 G03F1/14 主分类号 G03F1/14
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国