发明名称 可精确调整雷射测量头之雷射测量仪
摘要 本创作系一种可精确调整雷射测量头之雷射测量仪,该雷射测量仪设置有定位座,定位座设有组孔以容置雷射测量头,于定位座相应雷射测量头的侧向设有侧向螺孔,以供侧向调整螺丝顶抵雷射测量头,调整其左右侧向角度,另在定位座上、下方设有垂直调整螺丝,其锁入雷射测量头的垂直锁孔用以调整垂直向角度,以及雷射测量头在其本体及其端面锁设的镜座之间,设置有数弯曲调整螺丝,藉其顶抵本体端面以调节镜座的投射镜柱之曲面角度。
申请公布号 TWM243640 申请公布日期 2004.09.11
申请号 TW092214666 申请日期 2003.08.13
申请人 仲阳企业股份有限公司 发明人 李能焯
分类号 G01C5/00 主分类号 G01C5/00
代理机构 代理人 林镒珠 台北市中山区长安东路二段一一二号九楼
主权项 1.一种可精确调整雷射测量头之雷射测量仪,该雷射测量仪设置一瓣形的定位座,该定位座在各瓣形位置形成瓣体,其端面设有组孔,各组孔中安装一雷射测量头,其中;该定位座,其瓣体在左右两横向侧壁设有数个相通组孔的侧向螺孔,用以顶抵位于组孔内的该本体,瓣体的上、下方对应处则各设有至少一扩孔;该雷射测量头,其包含一柱形本体,以及于端面锁设一设具投射镜柱的块状镜座,该本体于上、下侧对应处,各设有至少一垂直螺孔,其对准该瓣体的该扩孔并供一垂直调整螺丝经扩孔锁入该垂直螺孔,该本体端面系设置有数锁孔;以及该镜座,其系圆环块状,侧面横穿一与该镜座中空处相通的镜孔,该镜座对应本体的锁孔设有沈孔,用以螺丝经沈孔锁入锁孔中,形成该镜座固定于该本体,该螺丝的外径稍小于该沈孔的内径,并且该镜座于错开该沈孔位置系设置数个互为对称位置的弯曲锁孔,用以弯曲调整螺丝锁设弯曲锁孔而可顶抵该本体对应端面上。2.如申请专利范围第1项所述之可精确调整雷射测量头之雷射测量仪,所述侧向螺孔分别在定位座两侧各设有二个,每侧之二个侧向螺孔系分别在前、后方分布。3.如申请专利范围第1项所述之可精确调整雷射测量头之雷射测量仪,所述垂直锁孔共有二个,垂直调整螺丝亦对应为二个。4.如申请专利范围第1项所述之可精确调整雷射测量头之雷射测量仪,所述弯曲调整螺丝共有四个,分别位于上、下、左、右的对称位置。图式简单说明:第一图系本创作雷射测量头配置于雷射测量仪的立体图。第二图系本创作雷射测量头元件立体分解图。第三图系本创作垂直调整螺丝对应雷射测量头位置侧视剖面图。第四图系本创作侧向调整螺丝对应雷射测量头位置上视剖面图。第五图系本创作侧向调整螺丝对应雷射测量头调整状态的上视剖面图。第六图系本创作弯曲调整螺丝对应雷射测量头位置侧视剖面图。第七图系本创作弯曲调整螺丝对应雷射测量头调整状态的侧视剖面图。第八图系现有雷射测量头之侧视平面图。
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