发明名称 | 积体电路内部电阻量测方法及电路 | ||
摘要 | 一种积体电路内部电阻量测电路,此电路不需运用外部线路点针方式即可快速量出积体电路记忆体内部各段电路走线电阻,其中由积体电路外部某根插脚提供一电压至欲量测电阻之走线上,此电压藉由相对于走线极小电阻之共同接线及数个分别控制之开关给予各段欲量测之走线电压。再藉由控制不同的开关提供给不同段欲量测之走线电压,针脚间所量测到的电流会因不同的开关,意即流经不同段长短不同的走线,有差异。内部走线电阻(分段电阻或整段电阻)即可藉由此差异得知,而不需破坏IC的外部包装,也无需以探针方式点取内部讯号。 | ||
申请公布号 | TW200516261 | 申请公布日期 | 2005.05.16 |
申请号 | TW092131035 | 申请日期 | 2003.11.06 |
申请人 | 华邦电子股份有限公司 | 发明人 | 王杰彦 |
分类号 | G01R27/00 | 主分类号 | G01R27/00 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区研新三路4号 |