发明名称 METHOD OF CLEANING A PROBE NEEDLE USED FOR A TEST PROCESS ON SEMICONDUCTOR CHIPS
摘要
申请公布号 KR20050080254(A) 申请公布日期 2005.08.12
申请号 KR20040008277 申请日期 2004.02.09
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 KANG, JOUNG WUK;CHEONG, KWANG YUNG
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利