发明名称 半导体装置中的节点接触结构及其制造方法
摘要 本发明揭示一种静态随机存取记忆体(SRAM)装置,其可包括:一位于一半导体基板上且其中具有一源极/汲极区之体MOS电晶体;一位于该体MOS电晶体上之绝缘层;及一其中具有一源极/汲极区之薄膜电晶体,其位于该体MOS电晶体之上之绝缘层上。该装置可进一步包括一位于该体MOS电晶体与该薄膜电晶体之间之多层式栓塞。该多层式栓塞可包括:一半导体栓塞,其直接位于该体MOS电晶体之源极/汲极区上并贯穿该绝缘层之至少一部分;及一金属栓塞,其直接位于该薄膜电晶体之源极/汲极区及该半导体栓塞上并贯穿该绝缘层之至少一部分。本发明亦论述了相关方法。
申请公布号 TW200527657 申请公布日期 2005.08.16
申请号 TW094100265 申请日期 2005.01.05
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 张在焄;郑舜文;郭根昊;黄炳晙
分类号 H01L27/11 主分类号 H01L27/11
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 韩国