发明名称 |
铪系高K介电质之原子层沈积法ATOMIC LAYER DEPOSITION OF HAFNIUM-BASED HIGH-K DIELECTRIC |
摘要 |
提出一种沈积铪系介电质膜之方法。该方法包括使用臭氧和一或多种包括铪先质的反应物进行原子层沈积。也提出一种半导体器件。该器件包括一基板,一在该基板上面形成的铪系介电层,与一在该基板与该铪系介电层之间形成的介面层,其中该介面层包括二氧化矽且具有结晶构造。 |
申请公布号 |
TW200529355 |
申请公布日期 |
2005.09.01 |
申请号 |
TW093129683 |
申请日期 |
2004.09.30 |
申请人 |
亚菲萨科技公司 |
发明人 |
李相忍;约翰 欧阳;千崎佳秀;奥伯瑞 小赫姆斯;柯伦 卡普金 |
分类号 |
H01L21/76 |
主分类号 |
H01L21/76 |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 |
主权项 |
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地址 |
美国 |